我对LED的认识.pptVIP

LED 椰风海韵！小卡畔你同行！ 浅谈我对LED的认识 品保部 王运动 2008/01/23 目录 晶片的保存环境 晶片电压大全 温度升高对LED的影响 LED的技术参数 可见光（380~760nm） 晶片的几种不良介绍 晶片的特性分布 信赖性实验介绍 晶片的保存环境 保存温度：20~25℃为佳 湿度：65%±5% 最佳保存期限：一年内为佳 晶片电压大全 传统（GaP，GaAsP）：2.0~2.6V 三元（AlGaAs）：约1.7~2.3V 四元（AlGaInP）：约1.9~2.4V 紫光，蓝光，纯绿光（InGaN）：约2.8~3.8V 红外线（GaAs， AlGaAs ）：约1.0~1.65V 温度升高对LED的影响 传统（GaP，GaAsP）：温度升高波长偏长，电阻降低，电压（VF）偏低。 三元（AlGaAs）：同上 四元（AlGaInP）：同上 紫光、蓝光、纯绿光（ InGaN） ：波长偏短，电阻降低，电压（VF）偏低。 LED的技术参数 波长（nm） 光强（mcd） 光通量（lm） 正向电压VF（V） 漏电流IR（uA） 功率Po（mW） 色温（色坐标x，y轴） 波长（nm） WLD：主波长（可见光） WLP：峰值波长（红外线） WLC：中心波长 光强、光通量 光强I ：來自於一個源點上的發射，經過一個立體角單位的流量 。 光通量? ：能量(Q)由一個表面流入，流出或流向一個表面的流量 。 VF、IR、功率 VF：正向电压 漏电流IR：业界标准（晶片IR≤1uA；LED IR≤10uA） 功率Po（mW）：一般针对红外线而言。 色温（色坐标x，y轴） 色温：指的是光波在不同的能量下,人类眼睛所感受的颜色变化 。 可见光（380~760nm） 紫色. . . . . . . . . . . 低於 450 nm 藍色. . . . . . . . . . .450 ~ 500 nm 綠色. . . . . . . . . . .500 ~ 570 nm 黃色. . . . . . . . . . .570 ~ 600 nm 橙色. . . . . . . . . . .600 ~ 620 nm 紅色. . . . . . . . . . .620 ~ 700 nm 晶片的几种不良介绍 拔垫：晶片本身不良，即合金不良。 打穿：一般为焊线参数不当所至（如：Power过大） 闸流体SCR ：一般发生在微小电流5~25uA，表现为电压过高。 晶片（chip）的特性分布 晶片特性：相邻晶片的光电特性比较接近，大圆片中间光电特性分布比较均匀，边缘离散性较高。 信赖性实验 恒温恒湿实验 高空跌落 冷热冲击 端子抗折弯 老化实验 过锡实验 热测 恒温恒湿实验 试验目的：验证产品在某种环境下的信赖 性 试验条件：湿度：95%；温度：85℃；时间：100H；点亮、未点亮均可。 试验设备：恒温恒湿机 高空跌落实验 试验目的：验证产品的抗摔力度 试验条件：从2m高处自由落下 试验设备：远方LED300 冷热冲击 试验目的：验证产品的抗冷热应力的能力 试验条件：-40 ℃ +85℃ 各30分钟一个轮回 试验设备：冷热冲击机 端子抗折弯 试验目的：验证PIN脚的抗折弯能力 试验条件：常温 试验设备：手动折弯、LED300 老化实验 试验目的：验证产品老化1000H时衰减率是否在30pa内。 试验条件：温度：15~25℃；恒流：20mA 试验设备：老化板、万用表、LED300测试仪、温湿度计。 过锡实验 试验目的：模拟客人的使用条件，验证产品的可靠性。 试验条件：280℃以下/5秒内 试验设备：锡炉、测温计 热测 试验目的： 试验条件： 试验设备： * *