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123 MSA量測系統分析 綠興科技:品保組 2007/03/01 目錄 一、前言 二、量測數據的品質 三、量測過程 四、量測系統的統計特性 五、變異的來源和類型 六、量測系統分析判定-(計量值GRR) 七、量具再生性與再現性之比較 八、量測系統分析-(計數值) 九、量測系統分析之準備 十、如何進行量測系統分析及規劃 一、前言 確保量具之量測品質，實施適當的統計研究，藉以分析各種量測設備量測結果的變異，與人員量測過程之誤差變異，使能提供客觀正確的變異數分析評價。本要求應適用於管制計畫裡所列的量測系統。所採用的分析方法和允收準則應符合顧客的量測系統分析參考手冊的規定。 二、量測數據的品質 三、量測過程 量測系統 四、量測系統的統計特性 1.量測系統均須在統計管制下而其所產生之變異應根源於共同原因，而非特殊原因。 2.量測系統之變異需相對小於生產製程之變異。 3.量測系統之變異需相對小於規格界限。 4.量測系統之最小刻度需相對小於製程變異或規格界限之較小者。 分辨力： (1)量規儀器上的最小刻度值，也稱解析度。 (2)通用比例規則：1/10比例法則。 五、變異的來源和類型 來源： 變異的類型 (一)位置變異(Location Variation) 準確度(Accuracy) 指一個或多個量測結果的平均數與參考值或真值之間一致的接近程度。 ＊參考值被作為真值的最佳近似值。 穩定性(Stability) 又稱漂移(Drift)，指經過一段長期時間下，用相同的量測系統標準，對同一基準或零件的同一特性，量測所得到的變異。 造成穩定性不佳的可能原因 偏倚(Bias) 通常被稱為「準確性」，但「準確性」有多種解釋，固有不同涵蓋意思。 偏倚是指對相同零件上量測多次所得平均值與真值之差異。 造成過大偏倚的可能原因 線性(Linearity) 線性是指量具在工作範圍內，偏倚量之差異分佈狀況。 造成線性誤差的可能原因 (二)寬度變異 精密度(Precision)：量測系統整個作業量測範圍內(尺寸、範圍和時間)的分辨力、敏感度和重複性的最終影響。 再現性(Repeatability) 又稱量具變異(Equipment Variation，EV)同一位作業者，使用同一量具，多次量測相同零件之指定特性時所得的變異。 造成再現性不佳的可能原因 再生性(Reproducibility) 又稱評價者變異(Appraiser Variation，AV)，指不同評價者以相同量具，量測相同產品之特性時，量測平均數之變異。 造成再生性誤差的可能原因 造成再生性誤差的可能原因(續) Gauge RR作業方法與時機How And When 舉例:取樣方法 10個樣本、3個操作員、重覆量測3次 重覆量測定義－各員完成第1次量測後,再作第2,3次量測. GRR作業時機 標準規格定期評估 人員改變 有外在不受控制的因素 標準規格有重大修護 量具再現性與再生性計算公式 再現性Repeatability (Equipment Variation) 2 trials? K1= 0.886; 3 trials? K1= 0.591 再生性Reproducibility (Appraiser Variation) n=樣品數 ; r=量測次數 2個操作員? K2取 0.701 ; 3個操作員? K2 取 0.523 再現性再生性 (Gauge RR) 分析結果Results Of Analysis 允收標準(以%RR判定) %RR＜10%:現有之量測系統可以接受. 10%≦%RR≦30%:儀器尚可使用(評估此量測系統是否需做改善). %RR30%:現有之量測系統不適用,需做主要改善或更新. 再現性(E.V.)再生性(A.V.) 量測儀器需加以維持保養。 量具需更新或設計更精密。 量具的定位裝置需改進。 存在過大的零件內變異。 應縮短儀器校驗週期及加強保養。 再生性(A.V.)再現性(E.V.) 對量測者需加以培訓，以了解如何正確使用儀器及讀值。 量測儀器校正未落實，應重新進行校正。 需設計夾具幫助量測者，提高使用量具的一致性。 八、量測系統分析-(計數值) 計數值的重複性和再現性可以採用以下方法: ─假設檢定分析(Hypothesis Test Analysis) 1.Kappa判定準則 2.有效性判定準則 計數型 Gage RR § 使用時機: 分辨好/壞(Go/No-Go) 區分等級(1~10級) § 判別: 分為一致性及正常性的判別:評估者本身的差異、 評估者之間的差異及與標準比較的差異。 § 資料結構: 順序型:有三個以上的水準，例如:非常不滿意、不滿意、