晶体薄膜衍衬成象分析课件.ppt

第十章晶体薄膜衍衬成像分析 概述 薄膜样品的制备 衍衬成像原理 相位衬度简介 概述 由与样品内结晶学性质有关的电子衍射特征所决定的衬度，称为衍射衬度 适用于薄晶样品的图象分析，主要用于晶体缺陷的分析 透射电镜样品制备方法 粉末样品——直接法 复型样品——间接法 薄膜样品——直接法 1.粉末样品制备 随着材料科学的发展，超细粉体及纳米材料发展很快，而粉末的颗粒尺寸大小、尺寸分布及形态对最终制成材料的性能有显著影响，因此，如何用透射电镜来观察超细粉末的尺寸和形态便成了电子显微分析的一的一项重要内容。 其关键工作是是粉末样品的制备，样品制备的关键是如何将超细粉的颗粒分散开来，各自独立而不团聚。 粉末样品制备 需透射电镜分析的粉末颗粒一般都小于铜网小孔，应此要先制备对电子束透明的支持膜。 常用支持膜有火棉胶膜和碳膜，将支持膜放在铜网上，再把粉末放在膜上送入电镜分析。 粉末或颗粒样品制备的关键取决于能否使其均匀分散到支持膜上。 通常用超声波搅拌器，把要观察的粉末或颗粒样品加水或溶剂搅拌为悬浮液，然后用滴管把悬浮液滴在粘附有支持膜的样品铜网上，静置干燥后即可供观察，为了防止粉末被电子束打落污染镜筒，可在粉末上再喷一层薄膜碳，使粉体夹在两层膜中间。 2.复型样品制备 所谓复型，就是把样品表面形貌复制出来，其原理与侦破案件时用石膏复制罪犯鞋底花纹相似。 复型法实际上是一种