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电离室测量吸收剂量原理 辐射质指数的定义方法有两种:一是保持靶到探测器的距离不变,以水模中20cm处和10 cm各处的组织体模比TPR的比值表示;二是保持靶到模体表面的距离不变,以水模中20cm处和10cm处的百分深度剂量PDD的比值表示 电离室测量吸收剂量原理 (二)高能电子束射线质的确定 加速器产生的高能电子束,在电子引出窗以前,能谱相对较窄,基本可认为是单能.电子束引出后,经过散射箔,监测电离室,空气等介质,并经准直器限束到模体(或患者)表面和进入模体后,能谱逐渐变宽.因此,电子束能量在不同位置数值差别很大.从临床使用和水中吸收剂量测量考虑,对高能电子束,首先要关心模体表面和水中特定深度处的能量的定义和表示法. 电离室测量吸收剂量原理 (二)高能电子束射线质的确定 模体表面的平均能量 高能电子束在模体表面的平均能量E0.是表示电子束穿射介质的能力和确定模体不同深度处电子束平均能量的一个重要参数.确定E0.的方法是通过测量高能电子束在水中的百分深度剂量曲线(如图),找出它的半峰值测量深度R50(cm) E0=2.33*R50 系数2.33的单位是MeV/cm，它是利用蒙特卡洛方法模拟高能电子束百分深度剂量而得来的。 电离室测量吸收剂量原理 （二）电离室的工作特性 需要特别指出，在确定R50时，要求固定源（即靶位置）到电离室的距离，然后测量百