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- 2016-12-25 发布于重庆
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富山分公司2008年
技术研发报告
---阻抗控制公差<+/-7%
(结案报告)
制作人:徐学军2008-9-25
审核:
核准:
富山分公司2008年技术研发结案报告
---阻抗控制公差<+/-7%
前言:
在电子产品的信号传输时,传输线路的阻抗是影响其传输速度及质量的重要因素,PCB的特性阻抗(characteristic?impedance,?Z0)的高精度控制,成为了近一、两年来世界pcb业一个新的重要课题。在看作展示世界PCB及其基板材料一个前沿技术发展的窗口——日本印制电路2000年的展览会(JPCA Show?2000)上,将它与绿色型基板、封装基板其它两项列为该届盛会中的三大“中心话题”。由此可见:特性阻抗(Z0)的高精度控制,已成为了PCB业内待解决的重要课题。本文针对PCB板阻抗的控制精度由+/-10%提高至+/-7%的方案进行研究探讨。
专用名词解释:
目前我公司设计的阻抗结构主要为:微带线及嵌入状微带线两种.
微带线叠构阻抗(surface microstrip):外层为阻抗控制的信号层面。它和相连的对照层(Power或Ground层)中间用PP隔开,如下图(1),通常指外层阻抗。
带状线阻抗(offset stripli
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