荧光定量的原理及过程例析.pptVIP

1 1 定量分析的基本问题 基体效应 基体效应的定义 基体效应的分类 吸收-增强效应 吸收-增强效应 Al-Si体系中的基体影响 Al-Si体系中的基体影响 光谱重叠校正 光谱重叠校正系数的计算方法 光谱峰位背景的校正 光谱峰位背景的校正 非线性区峰底背景计算 非线性区峰底背景计算 定量分析的基本方法 实验校正法 实验校正法 实验校正法 实验校正法 数学校正法 数学校正法 经验校正数学模型 数学校正法 理论 Alpha系数法数学模型 基本参数法 基本参数法迭代运算步骤 取样和制样要求 样品制备 样品的表面状态 荧光的临界厚度 (mm) 固体样品的制备 固体试样法－表面粗糙度影响 表面光洁度对强度的影响 粉末样品的制备 颗粒度和压力对光谱强度的影响 粉末样品中的矿物效应 粘结剂对分析线强度的影响 粉末压片 熔融法 试样/熔剂比 熔剂类型 熔融温度 熔融设备 氧化剂 添加剂 坩埚和碟材质 冷却对结晶的影响 试样/熔剂的稀释比： 1 ：4 - 1 ：20 之间； 较高的稀释 : 降低灵敏度，增加背景计数率 ； 较低的稀释 : 试样不能完全熔融 熔融速率低； 容易结晶 熔融片与碟间的粘连 (Cr 矿和Cu矿) Na2B4O7 Li2B4O7 LiBO2 NaBO2 LiF Na2CO3 NaF Li2CO3