ZY13001B1自动控制原理实验箱实验指导书V1.0.docVIP

目 录 前 言 1 实验系统概述 2 1、实验系统构成 2 2、实验箱整体布局及部分模块框图 2 3、各模块主要测试点 3 实验一二阶系统的阶跃响应及稳定性分析实验 5 实验二 PID控制器的动态性能 9 实验三 典型环节频率特性的测试 17 实验四 控制系统的动态校正 22 实验五 信号的采样与恢复 28 实验六 典型非线性环节的电路模拟 31 附 录 37 1、参考文献 37 前 言 《》《》+5V，-5V，+12V，-12V以及-12V－+12V可调电压的输出。 信号源单元可以产生周期正弦波信号，频率、幅值均可调。 元器件单元提供了实验所需的电容，电阻与可调电阻，方便学生实验。 非线性单元包括三组不同的典型非线性单元。 运放单元包括八组不同设置参数的运算放大器单元。 信号采样与恢复单元包括40106，4066等，提供了信号采样与恢复全过程的测试。 2、实验箱整体布局及部分模块框图 ⑴ 本实验箱整体布局如图1所示： 图1 ZY13001B1型自控原理实验箱整体布局图 ⑵ 信号采样与恢复单元模块如图2所示： 图2 信号采样与恢复单元模块结构框图 ⑶运放单元使用HA17741运算放大器为基础，外接不同参数的电阻、电容及可调电位器组成电路。运放调零可调电阻已接入电路中，并已调零完成。运用导线外接不同的电阻电容即可构成不同的电路完成实验。 ⑷ 非线性单元使用HA17741运算放大器为基础，外接不同参数的电阻、电容、可调电位器及双向稳压管组成电路。运放调零可调电阻已接入电路中，并已调零完成；电阻、电容、双向稳压管等元件也接好，运用导线接入输入信号即可完成实验。 ⑸ 元器件单元由不同参数的电阻、电容、可调电位器组成，连线亦接好，只需外接导线即可完成实验。 3、各模块主要测试点 （1） 测试钩 TP101：运放单元（一）的输出信号测试点，与插孔T106对应。 TP201：运放单元（二）的输出信号测试点，与插孔T207对应。 TP301：运放单元（三）的输出信号测试点，与插孔T306对应。 TP401：运放单元（四）的输出信号测试点，与插孔T406对应。 TP501：运放单元（五）的输出信号测试点，与插孔T506对应。 TP601：运放单元（六）的输出信号测试点，与插孔T607对应。 TP701：运放单元（七）的输出信号测试点，与插孔T706对应。 TP801：运放单元（八）的输出信号测试点，与插孔T806对应。 TP1001：信号源单元的输出信号测试点，与插孔OUT1001对应。 TP1101：非线性环节（一）的输出信号测试点，与插孔T1103对应。 TP1201：非线性环节（二）的输出信号测试点，与插孔T1203对应。 TP1301：非线性环节（三）的输出信号测试点（开关J1301拨上），与插孔T1305对应。 TP1302：非线性环节（三）的输出信号测试点（开关J1301拨下），与插孔T1306对应。 TP1402：信号采样与恢复单元中的抽样脉冲信号。 TP1403：信号采样与恢复单元中的反相抽样脉冲信号。 TP1404：信号采样与恢复单元中的抽样后的信号。 TP1405：信号采样与恢复单元中的抽样恢复信号。 （2）电位器 W1001：调节输出信号的频率。 W1002：调节输出信号的幅度。 W1401：调节抽样脉冲的频率。 其余电位器在实验电路连接中均作可调电阻使用。 （3）测试点位置图 各测试点的位置图如图3所示，测试点及电位器的具体功能见实验系统概述所述。 图3测试点及电位器位置图 实验一 二阶系统的阶跃响应及稳定性分析实验 一、实验目的 1、熟悉二阶模拟系统的组成。 2、研究二阶系统分别工作在ξ＝1，0ξ1，ξ1，ξ＝0等几种状态下的阶跃响应。 3、学习掌握动态性能指标的测试方法，研究典型系统参数对系统动态性能和稳定性的影响。 二、实验内容 观察典型二阶系统的阶跃响应，测出系统的超调量和调节时间，并研究其参数变化对系统动态性能和稳定性的影响。 三、实验仪器 1、ZY13001B1自动控制原理实验箱。 2、双踪低频慢扫描示波器。 3、数字万用表。 四、实验原理 典型二阶系统的方块结构图如图1.1所示： 图1.1 其开环传递函数为，，为开环增益。 其闭环传递函数为，其中，。 取二阶系统的模拟电路如图1.2所示： 图1.2 该电路中，，。 图1.3.1 图1.3.2 图1.3.3 图1.3.4 图1.3.5 该二阶系统的阶跃响应如图所示：图2.3.1，2.3.2，2.3.3，2.3.