《表面波SWCT操作说明.pptVIP

表面波采集与分析软件SWCT 操作说明 柴华友 中科院武汉岩土力学研究所智能室 采集设置（I） 采集设置（II） 选择设置，即可进入采集设置。 采样间隔：（100~300）D，D 为道距；采样长度：一般取1K； 延迟点数：缺省为-64，可不改动；触发模式：取最靠近振源的通道。 通讯接口：可以自动搜索计算机通讯接口； 滤波频率：根据实验感兴趣的频率范围而定，一般小于1000Hz。 道距：测点之间的距离；偏移距：振源与最靠近振源测点之间距离。 24FD通道：取2~4。剖面描述：描述测量的剖面； 测点位置：通过图形来改变测点的位置。在软件开始运行时测点的位置根据道距、偏移距计算，以后均以调整后的位置为准。 触摸屏：对一体化仪器，无键盘，选择触摸屏，可通过软件设计的按键输入参数。 测点位置调整（I） 测点位置调整（触摸屏）（II） 测点位置调整（III） 点击图中的传感器小图案，就会弹出输入参数框，输入待调整的距离。一般从最远的测点开始。 若是触摸屏方式，就会弹出一组数字按键，点击按键。 确认后按“确定”。 当输入有误时，通过“C”、“BACK”来清除、修改。 采集、显示（I） 采集、显示（II） 数据文件显示 部分操作命令（I） 命令按钮： 设置(M)：进入采样设置; 打开(O)：打开数据存放文件夹,文件在右侧文件框显示,点击文件便可观测分析结果; 采样(S): 采样,按“ESC” 可中断采样; 叠加:打勾选择对采集信号进行叠加,以便消除随机干扰 信号,提高信噪比; 存储(W):将测试的时域信号存储,数据扩展名为*.rdn; 分析(C) :对当前所选择的频散曲线进行经验分析。 部分操作命令（II） 波长、相速度：调整波长、相速度值可改变频散曲线显示范围。点击“波长”、“相速度”标题可以确认。 固定显示：表示在采集或读取文件时，频散曲线显示范围固定不便； 删除：点击某剖面频散，该剖面频散曲线为当前频散，可将其删除或对其进行分析。 测试曲线：当有多个测点时，会有多条频散曲线，勾中测试曲线，可显示时域测试曲线。 图片存储：将测试曲线或频散阵列存成*.bmp文件, *.bmp文件较大,可通过其它软件将其转换成较小*.jpg文件。勾中测试曲线，在存储的文件名后加“_wave”,否则文件名后加”_dis”。如输入文件名“SASW”,则测试曲线文件名为“Sasw_wave.bmp”;频散阵列为 ”Sasw_dis.bmp” 信号处理(I) 信号处理(II) 经验分析（I） 经验分析（II） 剖面:选择剖面,就可用半波分析方法对频散数据进行分析,在频散曲线上选择特征点,按下鼠标右键,这时就会在右侧出现柱状埋深及相应的剪切波速图。 加密点：当某些波长范围频散点稀疏时，可用鼠标点击，即可添加新的频散点； 删除点：当某些波长范围部分频散点异常时，可用鼠标点击相应的频散点，即可删除频散点； 深度/波长：经验分析时，常取深度/波长=0.5,即,半波分析,但实际未必合适,深度/波长可取0.5~2/3。通过深度/波长比可调整计算深度； 剖面取消：取消剖面，重新进行分析。 SWCT操作介绍 读取数据文件 数据曲线 数据处理结果 数据选择及干扰切除 切除窗和能量窗 信号间互谱分析 频散曲线构筑 频散曲线校正或光滑 频散曲线剖面分析 色彩设置 深度—剪切波速剖面 波长—相速度剖面 频率—相速度剖面 F—k分析处理 单条频散数据分析 瑞利波基本特性 瑞利波是一种表面波，在半无限体中，它的能量主要集中于1/2波长范围内，在点源作用下，瑞利波的能量占整个表面波场能量约2/3，P波占7%，SV波占26%。表面波随深度逐渐衰减，质点是以椭圆形逆时针运动，即水平运动滞后于竖向运动。 半无限体瑞利波质点轨迹及沿深度振幅变化 半无限体瑞利波质点轨迹及 沿深度振幅变化动态模拟图 半无限体中P、SV、R波波阵面振幅变化 表面测点水平、竖向位移 瑞利波影响深度与波长间关系 瑞利波影响深度基本上是一个波长，波长越大（或频率越低）影响深度越大。 测点振源布置 瞬态瑞利波测试主要是利用两测点互相关分析,由两测点互相关分析得到两测点间相位差,由相位差可得到在两测点各频率瑞利波的走时差；由道距D就可计算出相速度，的单位是度。为了保证瑞利波能充分形成，要求道距等于偏移距。道距是指两测点之间的距离，偏移距是指振源距最近测点的距离。由于瑞利波测试是利用测点之间的时差，因此，振源测点必须在一条直线上。 互谱分析测试布置 震源、测点布置图，一般取近震源测点与震源距离与测点间距相等。 现场测试图(一) 现场测试图(二) 道距及偏移距 数据筛选准则 振源 小道距、小偏移距要求高频激振；大道距、大偏移距要求低频