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日　光　協　ニ　ュ　ー　ス No.176 2015-04 日本光学工業協会 ＩＳＯ／ＴＣ１７２／ＷＧ１／ＷＧ２合同委員会開催 ４月１４日（火）午後、港区芝公園の機械振興会会議室において、ISO/TC172/SC1（基本規格）/WG１/ＷＧ２合同委員会が開催されました。 渋谷ＳＣ１分科会長はじめ、ＷＧ１、ＷＧ２委員１４名の方のご出席を頂きました。今回の審議議題は次のとおりです。 （合同） 1-1 ISO/FDIS 14999-4（光学及びフォトニクス―光学的素子及びシステムの干渉測定―第４部：ISO 10110に規定されている許容値の解釈及び評価）　及びISO/FDIS 10110-5（光学及びフォトニクス―光学素子及びシステム用の製図手法―第５部：表面形状公差）投票の審議 1-2 ISO/CD 14997（光学及び光学機器―光学素子の表面不完全度の試験方法）及びISO/CD　10110-7（光学及びフォトニクス―光学素子及びシステム用の製図手法―第７部：表面欠陥公差）のウェブ国際会議（３月１９日開催）結果の報告 1-3 ISO 21254（光学及びフォトニクス―レーザとレーザ関連機器―レーザによって誘発される損傷のしきい値―）シリーズの説明会（市原委員長による） （WG1） 2-1 ISO 9336 SR（光学及び光学機器―光学的伝達関数―応用―第