热成像系统通用技术.pptx

热成像系统通用技术 热成像系统通用技术目录1. 非均匀校正技术2. 坏点校正技术3. 微扫描技术4. 电子稳像技术5. DDE图像锐化技术6. 红外系统作用距离计算7. 伺服稳定技术1 非均匀性校正定义： 由于制作材料的缺陷、掺杂的非均匀性以及生产工艺过程控制的不稳定等，造成了红外焦平面阵列的不同像元在同一均匀入射辐射下，其视频输出信号（即X值）幅度不同，这就是所谓的红外焦平面阵列响应的非均匀性（Nonuniformity，NU）。非制冷探测器X数据制冷探测器X数据1 非均匀性校正非均匀性产生的原因：器件自身的非均匀性器件工作状态引入的非均匀性与外界输入相关的非均匀性非均匀性原因现象解决方法红外焦平面阵列中各像元的响应特性不一致图像杂乱无章，看不出图像内容常规非均匀性校正红外焦平面阵列中无效像元的影响图像中有固定的亮或暗点一直存在坏点校正红外焦平面阵列外界输入的影响在图像上有时会表现出列数的图像间非均匀性不一致，但列数间有规律新型非均匀性校正方法；去竖条纹算法等红外焦平面阵列所处环境温度的变化主要表现在非制冷机器上，一段时间后非均匀性严重变差定期打快门补偿；或新型非均匀性校正方法红外光学系统的影响校正前图像四周暗。如果光学系统筒壁有杂散光入射到焦平面，随着使用时间增长，系统会四周变亮去锅盖算法；新型非均匀性校正方法响应率的非均匀性，包括光谱响应的非均匀性正常校正后，对低温天空时会出现“鬼影”等现象去鬼影算法；新型非均匀性校正方法1 非均匀性校正非均匀性校正方法：常用校正方法：基于定标校正方法，如一点校正、两点校正、多点校正等。其他校正方法：基于场景的自适应校正。原始图像：非均匀性校正后：均匀黑体的输出图像：目录1. 非均匀校正技术2. 坏点校正技术3. 微扫描技术4. 电子稳像技术5. DDE图像锐化技术6. 红外系统作用距离计算7. 伺服稳定技术2 坏点校正坏点：是指在红外图像中坐标不随目标变化的明暗斑点，是由探测器的单个探测元对红外辐射的响应率过高或过低造成的，也称无效像元。过热像元（白点）：像元噪声电压大于平均噪声电压10倍死像元（黑点）：像元响应率小于平均响应率1/10常用的坏点校正方法：左点替换、上点替换、邻域中值或均值替换等。坏点图像坏点替换后2 坏点校正坏点与噪声、场景细节的区别：坏点的灰度值相对于周围像素点会发生大幅度跳跃，而噪声的灰度浮动范围通常小于3倍的邻域方差（3σ原则）。虽然场景细节的灰度值相对其周围像素点也会有大幅度跳跃，往往也会伴随着弥散现象。坏点的位置是固定的，而场景细节的位置则随场景运动发生变化。(a) 坏点 (b) 平坦区域内噪声 (c) 场景亮细节2 坏点校正演示视频（请点击图片观看）目录1. 非均匀校正技术2. 坏点校正技术3. 微扫描技术4. 电子稳像技术5. DDE图像锐化技术6. 红外系统作用距离计算7. 伺服稳定技术核心技术3 微扫描成像技术微扫描成像：可以看作是一个过采样过程，是对同一场景进行多次采样成像。具体地说，微扫描成像就是把焦平面器件对场景每次采样得到的图像存储下来，然后将得到的一系列图像的象素按照获取图像的方式和顺序进行交叉，通过进一步处理得到高分辨率的图像。作用：可以在一定程度上弥补单帧图像由于欠采样而损失的信号，因而可以提高系统的空间分辨率。亚像元成像技术超分辨率重建 通过光学微扫描、探测器错位拼接等方法对成像过程进行控制，实现过采样成像，并结合后续的信号处理，获得小于探测器几何尺寸的空间分辨率。 在现有一定空间分辨率的多帧图像基础上，根据信号处理的有关理论与方法，将具有相异信息并且相互重复的图像融合到一起，获得高分辨率图像。3 微扫描成像技术4幅320×256的微扫描图像640×512的超分辨率重建图像处理后目录1. 非均匀校正技术2. 坏点校正技术3. 微扫描技术4. 电子稳像技术5. DDE图像锐化技术6. 红外系统作用距离计算7. 伺服稳定技术4 电子稳像应用背景： 在飞机、车辆、舰船等运动载体上用热像仪观瞄目标时，由于机座的震动，像面上的图像不稳定，使观察者易于疲劳，同时也降低了测瞄精度。原理及效果： 利用电子设备和数字图像处理技术相结合的方法，通过检测出参考图像和被比较图像的运动矢量，并利用其补偿被比较图像，从而消除或减轻视频图像序列帧间的不稳定，获取清晰而稳定的视频图像序列。4 电子稳像演示视频（请点击图片观看）目录1. 非均匀校正技术2. 坏点校正技术3. 微扫描技术4. 电子稳像技术5. DDE图像锐化技术6. 红外系统作用距离计算7. 伺服稳定技术5 DDE图像锐化方法：通过图像增强模板，增强图像的细节和边缘轮廓，使得目标细节更清晰，对图像有去模糊的作用。处理后5 DDE图像锐化演示视频（请点击图片观看）目录1. 非均匀校正技术2. 坏点校正技术