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入网仪器的功能与主要应用范围
电子能谱仪
一种表面分析技术。一般具有XPS(X射线光电子能谱)和AES(俄歇电子能谱)功能。XPS,AES主要应用于获取材料试样表面(深度在10nm以内,AES<3nm,XPS<10nm)的元素组成(除H,He外的所有元素,特别适合于轻元素),化学态(特别是XPS可通过结合能的位移得到元素价态的信息)和化合物分子结构等方面的信息。配氩离子溅射枪可进行深度剖析,得到沿深度分布的元素组成和价态变化的信息。目前新型的XPS,AES仪具有微区分析和成像功能,不但可得到表面某微区的元素组成,价态,而且可得到表面某微区的元素分布图。适用于表面分析,多相催化,吸附,腐蚀与污染,氧化或还原,摩擦等研究。试样可为材料(金属,陶瓷,矿石,半导体材料,无机材料,高分子材料等)。样品的状态是固态(小块,片状,粉末),AES的样品必须导电。
可配UPS(紫外光电子能谱)功能。UPS主要应用于分子(气相)体系,利用UP谱识别不同的分子组成,进行价电子结构和化学键的研究等。
有机质谱仪
基本工作原理:以电子轰击或其他的方式使被测物质离子化,形成各种质荷比(m/e)的离子,然后利用电磁学原理使离子按不同的质荷比分离并测量各种离子的强度,从而确定被测物质的分子量和结构。?? 有机质谱仪主要用于有机化合物的结构鉴定,它能提供化合物的分子量、元素组成以及官能团等结构信息。分为四极杆质谱仪、离子阱质谱仪、飞行时间质谱仪和磁质谱仪等。
有机质谱仪的发展很重要的方面是与各种联用仪(气相色谱、液相色谱、热分析等)的使用。它的基本工作原理是:利用一种具有分离技术的仪器,作为质谱仪的进样器,将有机混合物分离成纯组分进入质谱仪,充分发挥质谱仪的分析特长,为每个组分提供分子量和分子结构信息。
可广泛用于有机化学、生物学、地球化学、核工业、材料科学、环境科学、医学卫生、食品化学、石油化工等领域以及空间技术和公安工作等特种分析方面。
无机质谱仪
无机质谱仪与有机质谱仪工作原理不同的是物质离子化的方式不一样,无机质谱仪是以电感耦合高频放电 (ICP)或其他的方式使被测物质离子化。
无机质谱仪主要用于无机元素微量分析和同位素分析等方面。分为火花源质谱仪、离子探针质谱仪、激光探针质谱仪、辉光放电质谱仪、电感耦合等离子体质谱仪。火花源质谱仪不仅可以进行固体样品的整体分析,而且可以进行表面和逐层分析甚至液体分析;激光探针质谱仪可进行表面和纵深分析;辉光放电质谱仪分辨率高,可进行高灵敏度,高精度分析,适用范围包括元素周期表中绝大多数元素,分析速度快,便于进行固体分析;电感耦合等离子体质谱,谱线简单易认,灵敏度与测量精度很高。
质谱分析法的特点是测试速度快,结果精确。广泛用于地质学、矿物学、地球化学、核工业、材料科学、环境科学、医学卫生、食品化学、石油化工等领域以及空间技术和公安工作等特种分析方面。
X荧光光谱仪
主要为波长色散型(波谱仪),也有能量色散型(能谱仪),但分辨率和精度稍差。
主要应用于测量各种材料(金属与合金、矿物与土壤、陶瓷与建筑材料、有机与无机材料、药物与聚合物等)中的元素成分(定性分析)和元素含量(定量分析),可分析B5~U92之间的所有元素,其中对非金属元素Si、P、As、S、Se、Te、F、Cl、Br和I的测定特别有效。分析元素的质量分数范围为几个μg/g~100%。样品的状态可以是固态(小块,片状,粉末)或液态。具有无损,快速检测的特点。
X射线能谱仪(EDX)
主要应用于测量各种材料(金属与合金、矿物与土壤、陶瓷与建筑材料、有机与无机材料、药物与聚合物等)表面微区的元素成分(定性分析)和元素含量(定量分析),可分析B5~U92之间的所有元素。一般作为扫描电镜或透射电镜的附件应用,可测定某一微区元素成分(定性分析)和元素的含量(定量分析),也可测定某元素在样品表面某条线上的浓度变化及测定某元素在样品表面一定面积内的浓度变化。
试样可为材料(金属、陶瓷、矿物、半导体材料、集成电路、无机材料、高分子材料等)。样品的状态可以是固态(小块,片状,粉末)或悬浊液。具有无损,快速检测的特点。
红外
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