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X射线光电子能谱学 射线诱发的光电子能谱技术通常分为两类:紫外光电子能谱(UPS )和X射线光电子能谱(X-Ray Photoelectron Spectroscopy,简称XPS )。 XPS最早是在原子物理实验室用来系统测量各种元素原子的电子束缚能,70年代初超高真空技术开始与XPS相结合。如今XPS已成为材料表面分析的常规工具。由于XPS可用来分析元素的化学状态,所以又称为化学分析用的电子能谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis-ESCA),这个名词强调在X射线电子能谱中既有光电子峰也包含了俄歇峰。 基本原理 1.光电子的发射及其能量 当入射光子的能量hv (h一普朗克常数,v-光波频率)明显超过原子的芯电子束缚能Eb时,可引起光电子发射。光电子的动能为 2.逃逸深度与表面灵敏度 θ是出射方向与表面法线的夹角。可见,垂直表面射出(θ=0)的电子来自最大的逃逸深度, 而近似平行于表面射出的电子则纯粹来自最外表面几个原子层。因此,XPS和AES一样是对表面灵敏的分析技术,采取改变探测角的方法更可以提高表面灵敏度。 基本装置 主要部件有X射线源、样品台、电子能量分析器、电子探测及倍增器,以及将电流转换成可读能谱的数据处理和显示的电子学系统。除电子学系统之外,所有部件都放在超高真空中。 XPS能谱仪的构成 主要: 真空系统; X射线源; 能量分析系统 电子控制系统 数据采集和处理系统 真空系统 为什么需要超高真空? 电子的平均自由程;(10-5Torr,50m) 清洁表面(10-6torr,1s,原子单层) 场发射离子枪要求 XPS要求:10-8torr以上 真空系统的构成 机械泵:有油污染,噪音,10-3torr 吸附泵:干净,需要液氮,容量小, 10-3torr 油扩泵:价格低,油污染, 10-6- 10-10torr 涡轮分子泵:体积小,半无油,抽速大,价高 噪音大, 10-8torr 溅射离子泵:高真空,无油,需要前级真空 无噪音,10-11torr 升华泵:抽速高,需要前级真空,消耗性 X射线的产生 X射线源结构 不同射线源的能量和线宽 X射线源的选择 对于一些元素,其结合能较高,选择高能量靶,可以提高信号强度; 对于一些元素,需要高的能量分辨率以及低结合能端的信息,就可以采用低能靶; 对于研究XAES线,一般需要采用高能靶。 低能靶的能量分辨率高,对价带峰和低动能峰有利;高能靶激发能量强,能量分别率差。 Mg/Al双阳极X射线源 能量范围适中(1253.7和1486.7eV) X射线的能量范围窄(0.7和0.85 eV) 能激发几乎所有的元素产生光电子; 靶材稳定,容易保存以及具有较高的寿命 不同X射线源激发的XPS谱 X射线的单色化 X射线均具有很宽的自然宽度,能量分辨率受到限制;必须进行单色化; X射线难以聚焦,单色化很困难; 一般采用Rowland圆晶体进行单色化(衍射方式)。 强度为原来的1%。 容易产生严重荷电效应; 能量分析器 电子能谱的核心部分,要求能精确测定能量; 磁偏转式能量分析器(对环境磁场灵敏,目前不采用)和静电型能量分析器; 分析器外部必须用u金属进行磁场屏蔽; 静电分析器具有四种形式。 分析方式 对于XPS一般采用固定通能方式(FAT),delta E是恒定的; 当能量比较高时,其分辨能力下降;因此,采用减速装置; 对于UPS实验,光电子能力低,不需要预减速处理。 对于UPS和AES,为了提高仪器灵敏度,采用FRR模式(delta E/E恒定),不需要预减速处理。 检测器 光电子信号微弱;10-11A 光电倍增管,多通道板,位置灵敏检测器; 光电倍增管:采用高阻抗,二次电子发射材料,增益:109 离子束溅射 样品表面的清洁; 样品表面层的剥离; Ar离子,氧离子,铯离子,镓离子等 固定溅射和扫描溅射 溅射因素 作为深度分析的离子枪,一般采用0.5~5 KeV的Ar离子源。扫描离子束的束斑直径一般在1~10mm范围,溅射速率范围为0.1 ~50 nm/min。 为了提高深度分辩率,一般应采用间断溅射的方式。 为了减少离子束的坑边效应,应增加离子束的直径。 为了降低离子束的择优溅射效应及基底效应,应提高溅射速率和降低每次溅射的时间。 离子束的溅射还原作用可以改变元素的存在状态,许多氧化物可以被还原成较低价态的氧化物,如Ti, Mo, Ta等 溅射因素: 离子束的溅射速率不仅与离子束的能量和束流密度有关;还与溅射材料的性质有关。 离子束能量低,溅射
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