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实验应变分析－主要的测试方法 电测法 包括电阻、电容、电感测试法 电阻法较常用，具有高灵敏度和精度。因是电信号测量，易于实现数字化、自动化；可用于不同环境下的测量；成本低廉。缺点是只能点测量固定方向应变，不能全域测量。 光测法 －包括光弹性、全息干涉、激光散斑干涉、云纹法等 光弹性法应用广泛，是利用偏振光通过具有双折射效应的透明受力模型从而获得干涉条纹图，可观察全域应力分布情况；快速测定应力集中系数；内外部边界应力测量。但周期长、成本高。 机械测试法 －利用引伸仪测定试件变形需经过放大。有杠杆式和齿轮式两种。 电阻应变片的发展与应用 －电阻应变片测量技术起源于19世纪。 －1856年，汤姆逊对金属丝进行了拉伸试验，发现金属丝的应变和电阻的变化有一定的函数关系；之后，人们利用惠斯登电桥来精确地测量电阻的变化。 －1938年，E·西门斯（E．Simmons）和A·鲁（A．Ruse），制出了第一批实用的纸基丝绕形式电阻应变片。 －40年代，出现了可调节的由测量电桥和放大器组成的电阻应变仪，使电阻应变测量技术在工程技术和科学实验领域内获得广泛的应用。 －1953年．P·杰克逊利用光刻技术，首次制成了箔式应变片，随着微光刻技术的进展，这种应变计的栅长可短至0.178mm －1954年．史密斯发现半导体材料具有的压阻效应。 为了克服直流放大器