[塞曼效应实验报告.doc

塞曼效应 【实验目的】 1. 学习观察塞曼效应的实验方法； 2. 观察 Hg 灯的 546.1 nm 光谱线在外磁场作用下的塞曼分裂结果（分裂后子谱线的个数、子谱线间距、子谱线的相对强度、子谱线的偏振态）； 3. 由塞曼裂距计算电子的荷质比 e / m。 【实验原理】 1、原子的总磁矩与总角动量 、外磁场对原子能级的影响 塞曼能级跃迁的选择定则 4．分裂谱线的强度 【实验装置】 本实验采用 WPZ-III 型塞曼效应实验仪，仪器组成如图 4 所示，1—电磁铁、2—电源、3—透镜、4—偏振片、5—干涉滤光片、6—F-P 标准具、7—CCD、8—导轨、9—电脑。 光源采用汞放电管，在 546.1 nm 附近没有其他谱线，可以用窄带干涉滤光片将它滤出来。汞的原子量大（Z=80），谱线本身的多普勒宽度小，上、下能级都是较好的 L—S 耦合。 电磁铁的磁场强度可达 1 T 以上，励磁由直流稳压电源供给，用高斯计可测出磁场强度。 透镜，用来获得平行光束，照亮 F—P 标准具。 偏振片，在垂直磁场方向时用以鉴别π 成分和σ 成分；在沿磁场方向观察时与 1／4 波长片一起用以鉴别左圆偏振光或右圆偏振光。 干涉滤光片，透过波长峰值为 546.1 nm，用以得到近似单色光。 法布里—珀罗标准具，中间为两块平面镜，间隔圈的厚度为 2 mm。 CCD 用来检测光信号，通过数据接口可在电脑屏幕上观察到等倾干涉圆环。 【实验内容】 1. 调整 F-P 标准具的 3 个螺丝钮使两平面镜严格平行； 2. 检查汞灯是否位于磁场的几何位置中心（这是获得均匀磁场的必要条件），若不在中心，移动汞灯位置时要小心（汞有毒，不要碰破汞灯）。 3. 调整透镜、偏振片、干涉滤光片、F-P 标准具等光学元件在导轨上的基座，使各光学元件与光源共轴，光线能完全进入 CCD； 4. 运行“塞曼效应分析软件”，调节透镜、干涉滤光片、F-P 标准具相互间的位置直至能在屏幕中看到清晰的圆环；5. 打开磁场开关，逐渐增大电流至能看到分裂的九条谱线； 6. 旋转偏振片，观察π 分量的 3 条谱线和σ 分量的 6 条谱线； 7. 利用分析软件对谱线进行分析，详见“塞曼效应分析软件使用说明书”。 【实验结果与分析】 有磁场时发生谱线分裂现象 直接由分析软件可得荷质比 e/m=-1.05库伦/千克 与理论值-1.7*1011库伦/千克有较大误差 【实验误差分析】 1. 实验仪器的精准度较高，但是调节困难 2.实验过程中画圈测圆的半径时，由于是目测的，精确度很低 3.实验过程中有部分光线的干扰等等 【思考题】 从塞曼分裂谱中如何确定能级的 J 量子数？ 由分裂谱线中的裂距可以求出能差从而可以求得J量子数。 2. 根据塞曼分裂谱的裂距如何确定能级的 g 因子数？ 由1中的J根据g与J的关系可求得g。 参考文献： [1] 褚圣麟，《原子物理学》，人民教育出版社，1979 [2] I. I. Sobelman，Atomic spectra and Radioactive Transinition, Berlin：Springer，1979 [3] 吴思诚、王祖铨．《近代物理实验》第三版，高等教育出版社，2005 [4] 周孝安等，《近代物理实验教程》，武汉大学出版社，1998