[粉体学简介.docVIP

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[粉体学简介

粉体学简介 (一)粉体学的概念 粉体学是研究固体粒子集合体(称为粉体)的表面性质、力学性质、电学性质等内容的应用科学。 (二)粉体的性质 1.粉体的粒子大小和粒度分布及其测定方法 (1)粉体的粒子大小和粒度分布:粉体的粒子大小是粉体的最基本性质,它对粉体的溶解性、可压性、密度、流动性等均有显著的影响,从而影响药物的溶出、吸收等。粒子大小的常用表示方法有:①定方向径,即在显微镜下按同一方向测得的粒子径;②等价径,即粒子的外接圆的直径;③体积等价径,即与粒子的体积相同的球体的直径,可用库尔特计算器测得;④筛分径,即用筛分法测得的直径,一般用粗细筛孔直径的算术或几何平均值来表示;⑤有效径,即根据沉降公司(Stocks方程)计算所得的直径,因此又称Stocks径; 式中,D-有效径,ρp,ρl—分别表示被测粒子与液相的密度;η—液相的粘度;h—等速沉降距离;t—沉降时间。 粉体的大小不可能均匀一致,而是存在着粒度分布的问题,分布不均会导致制剂的分剂量不准、可压性变化以及粒子密度变化等问题。因此,研究颗粒分布同样具有重要的意义。 常用频率分布表示各个粒径相对应的粒子占全体粒子群中的百分比。频率分布可用方块图来表示。 (2)粉体粒直径的测定方法: ①显微镜法:显微镜法是将粒子放在显微镜下,根据投影像测得粒径的方法。光学显微镜可以测定0.5~100μm级粒径。测定时应注意避免粒子间的重叠,以免产生测定的误差,同时测定的粒子的数目应该具有统计学意义,一般需测定200~500个粒子。 ②库尔特记数法:库尔特记数法是在测定管中装入电解质溶液,将粒子群混悬在电解质溶液中,测定管壁上有一细孔,孔电极间有一定电压,当粒子通过细孔时,由于电阻发生改变使电流变化并记录于记录器上,最后可将电信号换算成粒径。可以用该方法求得粒度分布。本法可以用于测定混悬剂、乳剂、脂质体、粉末药物等的粒径分布。 ③沉降法:沉降法是根据Stocks方程求出粒子的粒径,适用于100μm以下的粒径的测定。 ④筛分法:筛分法是使用最早、应用最广的粒径测定方法。它是将筛按孔径大小顺序上下排列,将一定量粉体样品置于最上层,在一定的震动频率下振动一定时间,称量各个筛号上的、粉体重量,求得各筛号上不同粒径的百分数。常用测定范围在45μm以上。 测定粒子大小时要注意的有关问题是:对粒子大小进行分析前对样品的合理选择和处理是得出正确结论的基础。在选取样品时,由于粉体因储存条件的变化或转移可能导致粒子的分布不均,因此有必要采用一定的方法取样。为使取样具有代表性,应当有适当的取样量。 2.粉体的比表面积 比表面积是表征粉体中粒子粗细以及固体吸附能力的一种量度。粒子的表面积不仅包括粒子的外表面积,还包括由裂缝和孔隙形成的内部表面积。 直接测定粉体比表面积的常用方法有气体吸附法。在常压下,一般气体吸附用于粒度在2~75μm范围内固体样品的测定,而在减压条件下可以用于更小粒子的测定,例如下雨0.1μm的粒子。另外还有气体透过法可以测定。但该法只能测粒子外部比表面积,而不能测得粒子内部孔隙的比表面积。 3.粉体的孔隙率 粉体的孔隙率是粉体层重空隙所占的比率,即粉体粒子间空隙和粒子本身孔隙所占体积与粉体体积之比,常用百分率表示。粉体的充填体积(V)为粉体的真体积(Vt)、粉体内部空隙体积(V内)、粉体间空隙体积(V间)之和。 空隙率的测定方法有压汞法、气体吸附法等。常用的测定粉体孔隙率的方法是将粉体用液体或气体置换法测定的,加热或减压法脱气后,将粉体进入液体中,测定粉体排出液体的体积从而求得空隙率。 4.粉体的密度 由于颗粒空隙定义的不同,粉体密度具有不同的含义,它可由三种方式来表示: 粉体的密度系指单位体积粉体的质量。根据粉体所指的体积不同,分为真密度、颗粒密度、堆密度三种。各种密度定义如下。 (1)真密度:指粉体质量m除以不包括颗粒内外空隙的体积(真实体积),求得的密度。即排除所有的空隙占有的体积后,求得的物质本身的密度(m/Vt)。 (2)粒密度:指粉体质量m除以包括颗粒内空隙在内的体积所得的密度。即排除粒子之间的空隙,但不排除粒子本身的细小孔隙,求得的粒子本身的密度。 (m/Vt+V内) (3)堆密度又称松密度:指粉体质量m除以该粉体所占容器的体积,求得的密度。其所用的体积包括粒子本身的孔隙以及粒子之间空隙在内的总体积。 (m/V,V=Vt+V内+V间) 测定分体的真密度和颗粒密度的方法与相应的孔隙率的测定方法是一致的。在测定松密度时,当装填时不施加任何外力测得密度为最松松(堆)密度,施加外力而使粉体最紧填充状态下所测得密度较最紧松(堆)密度。 对于同一种粉体,真密度粒密度堆密度。在药剂实践中,堆密度是最重要的。散剂的分剂量、胶

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