2016高压试验案例题库（参考）.docx

出题模板 题库汇总表题型题目难度等级案例分析题1.某500kV变电站一只500kV型号为TYD2500/√3-0.005GH 型电容式电压互感器，在预防性试验中发现其下节C31、C32电容量增长率异常，介损值正常，测试结果见下表： 相位tanδ（%）Cx（pF）Cn(pF)Δ%C310.0531964016437.3155705.57C320.076100800判断存在电容元件击穿的情况。根据厂家提供资料，C31由130个元件串联组成，C32由24个电容元件串联组成，每个电容元件的电容量为2.35μF，请根据测试结果分析C31及C32可能击穿的元件数？答案要点：C31的额定电容量≈2.35/130=18077pF (1分)C32的额定电容量≈2.35/24=97916pF (1分)如有n个电容元件击穿，则C31的电容量≈2.35/（130-n） (1分)C32的电容量≈2.35/（24-n） (1分)其变化率ΔC31%=（2.35/（130-n）-2.35/130）/（2.35/130）×100%=n/（130-n）×100% （1）(1分)ΔC32%=（2.35/（24-n）-2.35/24）/（2.35/24）×100%=n/（24-n）×100% （2）(1分)根据测试结果，分别得到：ΔC31%=8.6% (1分)ΔC32%=2.9% (1分)代入（1）及（2）中，分别算出n≈10和1，根据计算结果判断C31有10个元件击穿，C32有1个元件击穿。(2分)2.某110kV充油型电流互感器连续两年测得的三相介质损耗因数tanδ分别为：A相0.213％和0.96％；B相0.126％和0.125％；C相0.152％和0.173％。试根据此数据判断这组电流互感器的绝缘情况？（10分）答案要点：这组数据都没有超过Q/CSG114002-2011《电力设备预防性试验规程》的要求值2.5％（2分），但A相连续两年测量值增长数率（0.96-0.213）/0.213*100％=350％（2分）,而且和B、C相的测量值比较也显著增加(1分)。综合分析可见，A相互感器的tanδ值虽未超过《规程》要求，但增长速度异常（2分），且与同类设备比较悬殊较大，故判断绝缘不合格（2分），明显进水受潮应解体检查处理（1分）。3.一台型号为S9-50/10GY，联结组别为Yyn0的配电变压器检修后，用QJ23单臂电桥测得其直流电阻值见表：使用档位RＡB(Ω)RBC(Ω)RCA(Ω)I31.8231.6331.82Ⅱ29.0229.3928.75Ⅲ29.9628.1828.98试根据这一数据分析该变压器的问题？答案要点：I档ΔＲ(%)0.60，Ⅱ档ΔＲ(%)2.03，Ⅲ档ΔＲ(%)6.13。(2分)依据Q/CSG114002-2011《电力设备预防性试验规程》的要求线间差别不大于2.0％，（2分）从数据分析，RAB、RCA在Ⅱ、Ⅲ挡上所测数据超过标准。（2分）再换算为相电阻后更能说明间题。（2分）使用档位RAN(Ω)RBN(Ω)RCN(Ω)I16.0515.81515.815Ⅱ14.21514.80514.535Ⅲ15.3814.5813.6说明分接开关在A相Ⅱ、Ⅲ档抽头接反，重新吊芯检查，确实是分接开关在A相Ⅱ、Ⅲ档抽头接反。（2分）4.某供电局高压试验班对某变电站型号为SFZ8—31500/110，额定变比为110/10的变压器进行高压侧的交流耐压试验，测得高压绕组对低压绕组的电容 C12=9250pF，低压绕组对地的电容C2=21550 pF。原理接线图如下：1）该接线图是否正确，为什么？2）若用该接线进行试验时，对变压器施加耐压试验电压为l60kV时（试验变压器T1容量满足试验要求），低压绕组是否会损坏?为什么？答案要点:1）该原理接线图不正确。（1）低压绕组短路但未接地。若不接地，低压绕组上将由于电容效应对地产生高于绕组额定电压很高的的电压，造成绕组绝缘损坏。(2分)（2）未在被试品上直接测量试验电压。由于变压器为大容量试品，容升效应会使被试品上的电压比试验变压器的输出电压高，因此需要在被试品上直接测量电压。(2分)2）计算如下：（1）电位分布情况如图所示(画出其中一图得2分)(2)根据等值电路：U2=U[ C12 / ( C12+ C2)] (1分)U2=160[9250 /(9250+21550)]=48.052kV(1分)(3)低压绕组的额定电压为10kV，交接时交流耐压试验电压值为30kV，出厂试验值为35kV，均小于48.052kV。低压绕组对地电位偏高，会造成低压绕组绝缘损坏。(2分)√案例分析题5.110kV某变#1主变110kV侧直流电阻试