实验十七移位寄存器74164的逻辑功能测试..docVIP

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实验十七移位寄存器74164的逻辑功能测试.

实验十七、移位寄存器74164的逻辑功能测 试 实验目的 掌握中规模8位移位寄存器逻辑功能。 认识74LS164及其引脚封装。 实验预习要求 复习有关寄存器的内容。 查阅74LS164及逻辑电路,熟悉其逻辑功能及引脚排列。 实验设备 1、+5V直流电源 2、单次脉冲源 3、逻辑电平开关 4、DM74LS164 四、实验原理 1、移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中锁存的代码能够在移位脉冲的作用下一次左移和右移。既能左移又能右移称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号可实现双向移位要求。根据移位寄存器取存信息的方式不同分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。 本实验选用的8位移位寄存器,型号可为74LS164,其逻辑符号及引脚排列如图所示。 其中A、B为串行输入端; CLR为异步清零端; QH—QA为输入端; CLK为移位脉冲输入端; 74164是一种串行输入、并行输出的器件,时钟高电平有效,没有时钟使能端,该器件用低电平复位 图1 74LS164的逻辑符号及引脚功能表 其中QAO、QBO、QHO为在暂稳态输入条件建立之前QA、QB和QH相应的电平;QAN、QGN为在最近的时钟上升沿转换前QA或QG的电平,表示移一位。 移位寄存器应用很广,可构成移位寄存器型计数器;属虚脉冲发生器;串行累加器;可用作数据转换,即把串行数据转换位并行数据,或把并行数据转换位串行数据等。 实验内容 测试74LS164的逻辑功能 按图所示接线,A、B、CLK分别接至逻辑电平显示输入端。QA—QH分别接至逻辑电平显示输出端。14脚接+5V电源、7脚接地。 清除:令CLR=0,其它输入均为任意态,这时寄存器输出QA—QH应均为0。清除后,置CLR=1。 置数:令CLR=1,送入任意2位二进制数,加CLK脉冲,CLK由0→1、CLK由1→0两种情况下寄存器输入状态的变化,观察寄存器输出状态变化是否发生在CLK脉冲的上升沿。 附: 实验报告 实验步骤 按图1的引脚功能表接好电路。 按如下步骤测试功能: (1)异步清零功能:当=0时,这时Q3Q2Q1Q0=0000,双向移位寄存器清零。其它输入信号都不起作用,与CP无关,故称为异步清零。 (2)保持功能:当=1,且CP=0或M1 =M2=0时,双向移位寄存器保持状态不变。 (3) 同步并行送数功能:当=1,M1 =M2=1时,在CP上升沿操作下,并行输入数据d3 d2 d1 d0送入寄存器。 (4)右移串行送数功能:当=1,M1 =0、M2=1时,在CP上升沿操作下,可依次把加在端的数据从时钟触发器 行送入寄存器中。 (5)左移串行送数功能:当=1,M1 =1、M2=0时,在CP上升沿操作下,可依次把加在DSL端的数据从时钟触发器串行送入寄存器中。 二、实验结果 根据实验可得到如下状态图: Cr S2 S1 CP Sr Sl D0 D1 D2 D3 Q0 Q1 Q2 Q3 清零 0 × × × × × × × × × 0 0 0 0 保持 1 1 0 0 × × × × × × × Q0 Q1 Q2 Q3 送数 1 1 1 × × D0 D1 D2 D3 D0 D1 D2 D3 右移 1 1 0 0 1 1 × × × 0 × × × × × × × × 0 1 Q0 Q0 Q1 Q1 Q2 Q2 左移 1 1 1 1 0 0 0 1 × × × × × × × × × × Q1 Q1 Q2 Q2 Q3 Q3 0 1 三、实验注意事项 1、按图接好电路; 2、接电源时注意电源和地之间不要短接; 3、注意各个控制端不要接反了或接错了; 4、在检查电路没有问题后,再接通电源。 四、实验小结 通过本实验,让我进步的了解了74LS164的功能,为以后的使用提供了基础。 实验人:陈俊先

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