SPC管制图[精选].pptVIP

90/09/20 管制圖 Part 1定義 管制圖簡介 管制圖之基本原理 管制圖的功能區別 管制圖的種類 Part 2 繪製/使用步驟 管制圖的繪製要領 Part 3 實例解說/注意要點 管制圖之判讀 Part4 演練 實例演練 Part1 定義 何謂統計製程管制 SPC----Statistical Process Control Statistical----統計,以品管手法收集代用特性之資料後,以統計圖圖示方式表示 Process----製程,一系列的操作或活動稱之 Control----管制量測(代用)特性 SPC的源起及發展 1924 Shewhart 提出管制圖概念 1931 Shewhart 出版統計製程管制一書 1946 日本科技連成立 1950 Deming訪問日本舉辦8天之講習會 1960年代 統計品管在日本廣為推行 1974 美國成立第一個品管圈 1981 Deming發表“日本能我們為什麼不能”演講 SPC的觀念與應用 品質(Quality):符合客戶的需求 變異(Variation):偏離規格,差異 非機遇性原因----為某一人員,機台,材料,方法,量測或環境等可確認的原因 機遇性原因----為自然,不規則,不可控制的且完全無法消除的原因 統計製程常用工具 直方圖,管制圖 管制圖簡介 1924年休哈特(W.A.Shewhart)提出了管制圖(Control Chart)的概念與方法。管制圖是一種關於品質的圖解記錄，操作人員利用所收集的資料計算出兩個管制界限(上限及下限)，且畫出這兩個管制界限，在產品製造過程中隨時將樣本資訊點入管制圖內，以提醒操作人員。如發現有超出管制界限外之點或是出現特殊圖樣(異常現象)時，應立即由人員、機械設備、材料、方法(4M)或環境(1E)等方向進行層別以追查原因，進而改善製程。 管制圖之基本原理 管制圖為一種圖形表示工具，用以顯示從樣本中量測或計算所得之品質特性。典型之管制圖包含一中心線(Center Line, CL)，用以代表製程處於統計管制內時品質特性之平均值。此圖同時包含兩條水平線，稱為管制上限(Upper Control Limit, UCL)及管制下限(Lower Control Limit, LCL) ，用來表示製程或品質變異的容許範圍或均勻性。管制圖可用來判斷品質變異之顯著性，以測知製程是否在正常狀態。圖一為管制圖之範例。 管制圖功能區別 機遇性原因所發生的偏差 非機遇性原因所導致的偏差 管制圖的種類 依用途可分為 管制圖的種類 依性質可分為 管制圖的種類 Part2 繪製/使用步驟 管制圖之繪製流程 管制圖的繪製要領 管制圖編號、製品名稱、品質特性、測量單位、規格、製造部門、機器編號、工作者、抽樣方法、期限等 製程原因(人員、設備、材料、方法、環境)任何變更資料，須詳細記載，以便日後追查非機遇性原因分析用 中心線(CL)以實線表示，管制上限(UCL)及管制下限(LCL)以虛線表示 上下管制界限座標位置，不宜太寬太窄並預留管制界限外的空間 依規定進行抽樣並計算測定值，立即將計算值繪至管制圖上 若有任一點被判讀為異常，應立即追查原因並填入原因追查欄，千萬不可置之不理 管制圖之繪製 1.X - R 管制圖的作法: 1.搜集100個以上數據,依測定時間順序或群體順序排列。 2.把2 ~ 6個(一般採4 ~ 5個)數據分為一組。 3.把數據記入數據表。 4.計算各組平均值 X。 5.計算各組的全距 R。 6.計算總平均 X =ΣX / 組數。 7.計算全距平均 R =ΣR / 組數。 8.計算管制界限(如下頁)並於圖上繪制管制界限。 9. 並將點繪入管制圖中。10.記入數據履歷及特殊原因,以備查考,分析,判斷。 符號說明 X-R管制圖的公式 X-R管制圖實例解說 例：某料號板子於外層站進行生產，客戶要求之外層完成後的阻抗控制規格為50±10歐姆，生產中吳明聰每小時隨機抽取5片板子供IPQC人員量測阻抗值,共取得100組數據(如下表),請用此數據繪製解析用管制圖 解答 解答 管制圖之繪製 2 P管制圖的作法: 1.收集數據,至少20組以上。2.計算每組織不良率P。3.計算平均不良率P = 總不良率 / 總檢查數。4.計算管制界限 5.會管制界限,並將點點入圖中。 6.計入數據履歷及特殊原因,以備查考,分析,判斷。 計數值 P管制圖說明 符號說明 例：加工課檢查化金漏鎳不良，每天收集100個Strip(樣品數)，搜集20天的數據，試做解析用P管制圖 解答 Part3 實例解說/注意要點 ● 管制圖之研判與分析 ▼基本原則 1.最近一點落在管制界線外 2.在管制界限內的點出現特殊圖樣 (patterns