EMIEMC设计讲座(三)传导式EMI的测量技术-电子元件技术网.docVIP

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  • 2017-01-18 发布于天津
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EMIEMC设计讲座(三)传导式EMI的测量技术-电子元件技术网.doc

EMIEMC设计讲座(三)传导式EMI的测量技术-电子元件技术网

EMI / EMC设计讲座(三)传导式EMI的测量技术 传导式(conducted)EMI是指部分的电磁(射频)能量透过外部缆线(cable)、电源线、I/O互连介面,形成「传导波(propagation wave)」被传送出去。本文将说明射频能量经由电源线传送时,所产生的「传导式杂讯」对PCB的影响,以及如何测量「传导式EMI」和FCC、CISPR的EMI限制规定。 差模和共模杂讯 「传导式EMI」可以分成两类:差模(Differential mode;DM)和共模(Common mode;CM)。差模也称作「对称模式(symmetric mode)」或「正常模式(normal mode)」;而共模也称作「不对称模式(asymmetric mode)」或「接地泄漏模式(ground leakage mode)」。 由EMI产生的杂讯也分成两类:差模杂讯和共模杂讯。简言之,差模杂讯是当两条电源供应线路的电流方向互为相反时发生的,如图1(a)所示。而共模杂讯是当所有的电源供应线路的电流方向相同时发生的,如图1(b)所示。一般而言,差模讯号通常是我们所要的,因为它能承载有用的资料或讯号;而共模讯号(杂讯)是我们不要的副作用或是差模电路的「副产品」,它正是EMC的最大难题。从图一中,可以清楚发现,共模杂讯的发生大多数是因为「杂散电容(stray capacitor)」的不当接地所造成的

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