半导体照明检测技术..docx

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半导体照明检测技术.

六、半导体照明检测技术1、LED封装测试(1)LED光色电综合性能测试??? 测试光通量、光效、光功率、相对光谱功率分布、色品坐标、色温、主波长、峰值波长、光谱半宽度、显色指数、色纯度、红色比、色容差、正向电压、正向电流、反向电压、反向电流等参数。??? 配置高精度快速光谱辐射计和可编程LED专用测试电源,可实现LED的瞬态光学特性测量(脉冲测量)及稳态光学特性测量(直流测量)。(2)LED光强、角度测试??? 测试光强分布(配光曲线)、光强、三维光强分布图、光强随正向电流变化特性曲线、正向电流随正向电压变化特性曲线、光强随时间变化特性曲线、光束角、光通量、正向电压、正向电流、反向电压、反向电流等参数。(3)LED加速老化试验及寿命测试??? 用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。测试项目包括:LED光度(或光效)-时间变化曲线(光通量维持特性曲线);LED光度-管基温度-时间变化曲线(温度特性试验)、LED色度-管基温度-时间变化曲线(温度特性试验)、LED结电压-时间变化曲线、LED结电压-光度变化曲线、LED结电压-色度变化曲线等。并可通过数据处理,建立推算模型,推算出该加速应力下LED样品的预期寿命。(4)LED热学(结温、热阻)测试??? 实现LED热阻、参考热阻、热校准系数、结温以及电性能参数的分析测量,同时绘制不同环境温度下的电流(mA)-电压(V)特性曲线(I-V@TC),电压(V)/结温(℃)/-时间(ms)曲线,瞬态升温、降温曲线。(5)LED光辐射安全测试(IEC62471测试)??? 主要用于LED封装、LED模组、LED灯具、节能灯、荧光灯、HID灯等各种光源的光辐射安全测试。测试项目包括皮肤和眼睛的光化学紫外危害、眼睛的近紫外危害、视网膜蓝光危害、视网膜热危害等,并根据危害性程度进行光辐射安全等级评定。(6)电磁兼容(EMC)试验??? 按照IEC及LED相关标准要求,进行抗静电能力(ESD)试验。多种试验模式(IEC模式、MM机器模式、HBM人体模式)可选择。2、LED模块及灯具测试(1)LED模块和灯具的光色电综合性能测试??? 测量LED模块/LED灯具的相对光谱功率分布、色品坐标、色温、显色指数、色容差、峰值波长、主波长、平均波长、色纯度、色比、半宽度、光通量、光辐射功率、电压、电流、功率、功率因素、谐波等,满足国际照明委员会CIE对光和颜色测量要求。(2)LED模块和灯具的配光性能测试??? 用于LED模块、LED灯具和其他光源及灯具的总光通量、区域光通量、空间光强分布曲线(配光曲线)、光强数据、光束角、等照度图、等光强图、利用系数、亮度限制曲线、眩光等级、有效平均照度曲线等参数的高精度测试;实现各种光源、灯具空间颜色分布、平均颜色特性及空间颜色不均匀性测量;实现各种光源、灯具空间亮度分布测量、闪亮面积测量。(3)LED模块和灯具的加速老化试验和寿命测试??? 用于LED模块和LED灯具的的常规老化、过载老化、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。测试项目包括:每路被试LED灯具光度(或光效)-壳温-时间变化曲线(光通量维持特性曲线)、光度及壳温-工作室温度变化曲线、功率-时间变化曲线、灯功率-光度变化曲线、光效-时间变化曲线/色温-时间变化曲线(色漂移)等。??? 通过数据处理,建立推算模型,推算出该加速应力下LED灯具样品的预期寿命。(4)LED模块和灯具温升试验??? 按GB7000.1-2007《灯具一般安全要求和试验》要求,对LED模块、LED灯具进行温升特性试验。(5)LED模块和灯具的光辐射安全测试(IEC62471测试)??? 主要用于LED单颗封装、LED模组、LED灯、LED灯具、节能灯、荧光灯、HID灯等各种光源光辐射安全测试(也即62471测试)。测试项目主要包括皮肤和眼睛的光化学紫外危害、眼睛的近紫外危害、视网膜蓝光危害、视网膜热危害等辐射危害测试,并根据危害性程度进行光辐射安全等级评定。(6)电磁兼容(EMC)测试??? 按照IEC及LED相关标准要求,对LED驱动电源、LED、LED模块、LED灯具等进行电磁兼容试验。测试项目涉及静电放电(ESD)、快速瞬变脉冲(EFT)、雷击浪涌(SURGE)、周波跌落(DIP)等。3、LED驱动电源测试(1)、LED驱动电源的电性能测试??? 采用电量测试仪(数字功率计)为LED驱动电源提供电学性能测试。测试项目包括:电压,电流,功率,功率因数,频率、谐波等。(2)LED驱动电源的电磁兼容(EMC)试验??? 按照IEC及驱动电源相关标准要求,对LED驱动电源进行电磁兼容EMC试验,试验项目涉及:抗静电能力(ESD)试验,雷击浪涌(SURGE)试验,周波跌落(DIPS

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