X_荧光分析实验报告.docxVIP

实验2.2 X荧光分析一、实验目的1、了解能量色散X 荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法;2、运用莫塞莱定律(Moseleys Law)时，从实验推出屏蔽常数等;3、研究物质对X 射线的吸收规律。二、实验原理以一定能量的光子、电子、原子、α粒子或其它离子轰击样品，将物质原子中的内壳层电子击出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁，填补内壳层电子空位，同时释放出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征X射线形式释放，或能量转移给另一个轨道电子，使该电子发射出来，即俄歇电子发射。测出特征X射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。当原子中K层电子被击出后，L层或M层的电子填补K层电子空位，同时以一定几率发射特征X射线。L~K产生的X射线叫系，L层有三个子壳层，选择规则使系有两条谱线和。M~K产生的X射线叫系，M层有五个子壳层，选择规则使系有，，三条谱线。当原子中L层电子被击出后，M~L跃迁产生的X射线叫L系。特征X射线的能量为两壳层电子结合能之差，即 (1)所有元素的K，L系特征X射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。X荧光分析中激发X射线的方式一般有三种：（1）用质子、α粒子等离子激发；（2）用电子激发；（3）用X射线或低能γ射线激发。我们实验室采用X射线激发（记为XIX），用放射性同位素作为激发源的X光管。X光管通过加热阴极K发射热电子，其在阴阳