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材料微观分析习题及解答（第一章） 1．X射线的本质是什么？用于晶体结构分析的X射线波长一般为多少？ 答：X射线的本质是电磁波，它同时具有波动性和粒子特性。 用于晶体结构分析的X射线波长一般为0.25～0.05nm。 2．什么是特征X射线谱？物质的特征X射线谱取决于什么？ 答：反映物质原子序数特征的X射线构成的X射线谱称为～。 物质的特征X射线谱取决于物质的原子能级结构。 3．在X射线分析中，为什么要使用滤波片？滤波片的原理是什么？滤波片应如何选择？ 答：采用滤波片是希望滤掉两条谱线中的一条，得到“单色”的入射X射线。 滤波片的原理是某物质可以强烈吸收波长的入射X射线，而对于的X射线吸收很少。 滤波片材料是根据靶元素确定的，当靶固定以后，应满足： 当Z靶40时，则Z片＝Z靶－1 当Z靶≥40时，则Z片＝Z靶－2 材料微观分析习题及解答（第二章） 1．将下面几个干涉面（属立方晶系）按面间距的大小排列。 （123）、（100）、（）、（）、（）、（210）、（110）、（）、（030）、（130） 答：由计算得： 晶面 (123) (100) () () () (210) (110) () (030) (130) d(a*) 0.2673 1 0.5 0.3015 0.4082 0.4472 0.7071 0.3333 0.333