X射线荧光光谱理论考试考试题库(简答题).doc

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X射线荧光光谱理论考试考试题库(简答题)

X射线荧光光谱理论考试题库(简答题) 1.X荧光进行定性分析的基础是什么? 答:化学元素在受到适当的激发时发射出特征辐射。 2.X荧光进行定量分析的基础是什么? 答:受激引发的特征辐射强度与样品中元素的含量成正比关系。 3.请列出几种探测器(两种以上)? 答:充气正比探测器、闪烁探测器、半导体探测器。 4.X荧光分析中所用探测器的作用是什么? 答:将X射线转换成一种能量形式,这种能量可在一定的时间内被测量和积分。 5.X荧光分析中对所使用的分光晶体有哪些要求: 答:X荧光分析中,色散装置中所用的分光晶体应有好的反射率、色散率,温度效应小,较好的物理性质,小的晶体荧光、异常反射。 6.波长色散X荧光光谱仪的组成部分是什么,各部分的作用是什么? 答:波长色散X荧光光谱仪的主要组成部分为:X光管、色散装置和探测器。 各部分作用:X光管作为激发源;色散装置分离出单一波长以供检测;探测器用于检出信号。 7.X荧光分析中,脉冲高度选择器的作用是什么? 答:脉冲高度选择器的作用是以能量分离的方式,将适当窄的波长范围与整个波谱分开,以利于检测。 8.请解释何为X射线荧光。 答:当来自X射线管具有足够能量的初级(一次)X射线与试样中的原子发生碰撞时,并从该原子中逐出一个内层电子(如K电子),就在此壳层中形成一个空穴,随后由较外层的一个电子跃迁来填充此空穴,同时发射出二次X射线光电子,即X射线荧光。 9.简述滤光片的作用。 答:消除或降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干 扰,可改善峰背比,提高分析的灵敏度。 10.请写出X光管产生X射线的机理。 答:用电流加热灯丝,在灯丝周围形成高电子密度区,电子在加于阳极和灯丝之间的大电位差的 作用下,沿阳极聚焦管加速,高速电子打在阳极上,产生X射线辐射。 11.充气探测器探测X射线的原理是什么? 答:X射线光子通过窗口进入探测器,电离惰性气体,电离产生的初始电子对数目与入射线的能 量成正比。在加于阴极和阳极间的高压作用下,初始电子被加速,与其它的惰性气体原子碰 撞,激出电子而本身不被吸收,如此形成一个倍增过程。最终电子撞击在金属丝上形成一个 电压脉冲信号,导入其后的读出装置读出。 12.闪烁探测器探测X射线的原理是什么? 答:闪烁探测器是先由磷光体(是一种吸收某一波长辐射后,发射出较长波长的物质)把X射线能量变成2.5-3.0电子伏特的低能态,再由光电倍增管把波长能量变为电压并放大,然后导入其后的读出装置读出。 13.用作测量X射线的探测器具有哪些特点。 答:(1)在所测量的能量范围内具有较高的探测效率; (2)具有良好的能量线性和能量分辨率; (3)具有良好的高计数率特性,死时间较短; (4)具有较高的信噪比,要求暗电流小,本底计数低; (5)输出信号便于处理、寿命长、使用方便、价格便宜。 14.对扫描获得的谱图进行定性分析的一般步骤是? 答:(1)先将X光管靶材元素的特征谱线标出。 (2)从强度最大的谱峰识别起,根据所用分光晶体、谱线的2θ角和X射线特征谱线波长及对应的2θ角表,假设其为某元素的某条特征谱线。 (3)通过对该元素的其它谱线是否存在来验证第(2)条的假设是否成立。同时考虑同一元素不同谱线之间的相对强度比是否正确。 (4)如果在第(2)条假设的存在某元素成立,则将该元素的所有其它谱线均标出来。 (5)继续按第(2)条寻找下一个强度最大的谱峰并用同法予以识别。 15.X射线荧光光谱分析的优缺点? 答:(1)优点 a样品处理相对简单; b峰背比较高,分析灵敏度高; c不破坏试样,无损分析; d分析元素多,分析范围广ppm-100%; e试样形态多样化(固体、液体、粉末等); f快速方便。 (2)缺点 a基体效应比较严重,试样要求严格; b轻元素分析困难; c仪器复杂,价格高; d一般来说,X射线光谱法的灵敏度比光学光谱法至少低二个数量级,但非金属元素例外。 16.熔片法对于熔剂有什么要求? 答:在一定温度下能将试样很快地完全熔融、熔体流动性好、容易浇铸、形成玻璃体、玻璃体 有一定的机械强度、不易破裂、稳定、不易吸水、熔剂中不含待测元素或干扰元素。 17.在XRF光谱分析中,与分析线重叠的干扰来源于?

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