XRF定性和定量分析讲解.ppt

G.Y.Tao SICCAS XRF 的 定 性 和 定 量 分 析 陶光仪 中国科学院上海硅酸盐研究所 无机材料分析测试中心 定 性 分 析 基于 Bragg 定律 : nλ= 2d Sinθ for LiF 200 crystal (2d = 0.4028 nm) Fe Kα(λ= 0.19373 nm) if n = 1, then θ= 28.75° 2θ= 57.50° 定 性 分 析 指定元素定性分析— 选择合适的测量条件，对该元素的主要谱线进行定性扫描，从扫描谱图即可对该元素存在与否予以确认。 全定性— 用不同的测量条件(Ｘ光菅电压，过滤片，狭缝，晶体和探测器)和扫描条件(2q 角度范围、速度和步长等)编制若干个扫描程序段，对元素周期表中从9 F到 92 U的所有元素进行全程扫描。 传统的做法是由熟悉XRF专业知识的人员根据X射线特征谱线波长及对应之2q角表，对扫描谱图中的谱峰逐一进行定性核查和判别 X射线波长及2q角表 (片断摘录) 定 性 分 析 的 一 般 步 骤 先将Ｘ光菅靶材元素的特征谱线标出。 从强度最大的谱峰识别起，根据所用分光晶体、谱峰的2q角和X射线特征谱线波长及对应之2q角表，假设其为某元素的某条特征谱线(如使用LiF200晶体并在2q = 57.52°时出现谱峰，则可假设为Fe的K a线)。 通过对该元素的其他谱线(如Fe的K b线，2q =51.73°)是否存在来验证笫2)条的假设是否成立。同时要考虑同一元素不同谱线之间的相对强度比是否正确。 如果笫2)条假设的存在某元素(如Fe)成立，则将该元素的所有其他谱线均标出来(如Fe的La线等)。 继续按笫2)条寻找下一个强度最大的谱峰并用同法予以识别。 一个合金钢样(含铁、钴、镍、钒和锰等元素)用LiF220晶体在56-126 o2q角度范围内的扫描谱图 定 性 分 析 软 件 现代XRF谱仪所带的定性分析软件，一般均可自动对扫描谱图进行搜索和匹配， 搜索包括确定峰位、背景和峰位的净强度 匹配是从XRF特征谱线数据库中进行配对，以确定是何种元素的哪条谱线 这些软件也常会出现错判，特别是对一些复杂体系的试样。 在发生谱线重叠时软件常会对同一个峰位给出一条以上谱线的匹配，这时仍需分析者根据XRF定性分析的专业知识予以判断和确定。 例如PbLa 和 AsKa几乎完全重叠，这时一般需通过PbLb和AsKb来分别确定是否存在Pb和As。 定 量 分 析 一 般 步 骤 建立分析程序 建立漂移校正程序 建立标样浓度文件 测量标样 建立校正曲线 测量未知样 建 立 分 析 程 序 (1) 测量介质：真空或充He 通道罩具：确定试样分析面积的大小 直径6mm或12mm或27mm或 30mm或 37mm …… 元素或化合物 试样情况： 块样 — 金属，合金 …… 粉末压片— 样品量，粘接剂种类及量 熔融片— 样品量，熔剂种类及量 溶液— 样品量，溶剂种类及量 建 立 分 析 程 序 (2) 测量道(Channel)： 包括道名，谱线，晶体，狭缝，探测器，过滤片，kV/mA，峰位及背景，计数时间，脉冲高度分布(PHD) …… Check Angle：确定峰位实际角度，背景点，测量时间及谱线重叠元素 Check PHD：确定脉冲高度分布的设定 测 量 谱 线 的 选 择 一般而言，K系线强度 L系线强度 Ka:Kb 对 50Sn 而言为 3:1 对 30Cu 而言为 5:1 对 13Al 而言为 25:1 一般而言，对Z = 4Be-53I，可用K系线 对Z = 55Cs-92U，可用L系线 对Z = 37Rb-60Nd，可用K或L系线 确 定 实 际 2θ 角 度 确定背景位置及背景校正 计 数 统 计 误 差(Counting Statistic Error) Gaussian Distribution Standard Deviation: Where: T— Measuring Time (s) R — Count Rate (cps) Relative Standard Deviation : 例如： R = 100,000 cps