岩石学复习思考题06.doc

岩石学（含晶体光学）复习思考题 2006.6 晶体光学与造岩矿物学部分 光性均质体定义，特征和包括的矿物种类（高级晶族和非晶质体） 光性非均质体定义，光在非均质体中传播的特征（A 具有两个或三个主折射率；B 具有双折射现象，双折率和最大双折率；C 具有1个或者2个光轴OA，沿此方向不发生双折射），非均质体包括的晶族（中级晶族和低级晶族） 光率体的定义，（注意任何切面都必须通过光率体中心） 均质体光率体的形状、切面特征 一轴晶定义、光率体特征（形状、2个主轴、2个主折射率、） 一轴晶光性符号是如何规定的，各举1个矿物例子（一轴正晶NeNo，石英；一轴负晶NeNo，方解石） 一轴晶的三种主要切面及其特征，并图示 切面类型 切面形状 半径 垂直该切面入射光特征 双折率 备注 示意图 1．垂直OA切面 圆 No 不发生双折射 0 只有1个 2．平行OA切面 椭圆 Ne，No 发生双折射，分解为两束偏光，振动方向分别平行于椭圆切面两个半径Ne，No，两个主折射率为Ne和No Ne与No之差，是最大双折率 无数个此切面 3．斜交OA切面 椭圆 No，Ne’ 发生双折射，分解为两束偏光，振动方向分别平行于椭圆切面两个半径Ne’，No，两个主折射率为Ne’和No Ne’与No之差 无数个此切面 二轴晶二轴光率体定义、光率体特征（形状为三轴不等椭球体、3个主轴NgNmNp、3个主轴面、两个光轴与两个圆切面） 二轴晶光率体有关的名词：二轴晶，光学主轴（主轴），主轴面（主切面），光轴面，光学法线，光轴角，锐角等分线，钝角等分线 二轴晶光性符号是如何规定的，举2种确定办法 若Bxa=Ng, 二轴正晶，正光性（+）; 若Bxa=Np, 二轴负晶，负光性（—） 根据Ng-Nm-Np的大小，若Ng-NmNm-Np, 正光性(+) , 若Ng-NmNm-Np, 负光性(—) 二轴晶的五种主要切面及其特征，并图示，注意正晶和负晶不同，见表0 表0 二轴晶的五种主要切面及其特征 切面类型 切面形状 半径 垂直该切面入射光特征 双折率 备注 示意图 1．垂直OA切面 圆 Nm 不发生双折射 0 2个此切面 2. 平行光轴面的切面 椭圆 NgNp主轴面 Ng，Np 发生双折射 Ng-Np 为最大双折率 2个 3．垂直Bxa切面 1个 4．垂直Bxo切面 1个 5.斜交切面 无数个 光性方位定义。高级、中级和低级晶族晶体的光性方位各有什么特征？ 岩石薄片的厚度？树胶的折射率？ 0.03mm, 1.54 在单偏光镜下观察矿物解理分为几级（极完全/完全/不完），解理缝和解理缝可见临界角定义。 什么是解理夹角，测定解理夹角的步骤。 矿物颜色的本质（是透射光选择吸收的结果）。多色性与吸收性的定义，一轴晶和二轴晶分别在哪个切面多色性最明显（平行光轴或者平行光轴面）？ 矿物的边缘和贝克线的定义。 讨论贝克线产生的原因，并图示。 贝克线移动规律？（提升镜筒，向折射率大移动；下降镜筒，折射率小移动） 糙面定义和产生原因。 突起的定义，确定矿突起正负的依据，突起的等级划分(折射率范围、特点和矿物举例) 在单偏光下可以观察矿物的哪些特征（矿物形态，解理，颜色，多色性和吸收性，边缘，贝克线，糙面，突起，闪突起） 消光和消光位的定义。矿物的三种消光类型及其反映的矿物和切面特征。 消光类型 矿物和切面性质 全消光 均质体，非均质体垂直光轴切面——圆切面 四次消光 非均质体垂直光轴切面以外的任一切面，四次消光四次明亮——椭圆切面 不消光 多晶质 矿物的三种消光类型，消光角的定义。 光程差的计算公式 R=d(N1-N2). 影响光程差的因素（薄片厚度，矿物性质，切面方向） 干涉色级序的第一、第二和第三级的特征 级序 R（nm） 主要干涉色 显著特征 第一级 0-550 暗灰-灰白-浅黄-橙-紫红 I级灰，I级灰白 第二级 550-1100 蓝-蓝绿-绿-黄-橙-紫红 鲜艳，界限清楚。II级蓝 第三级 1100-1650 蓝-绿-黄-橙-红 界限欠清楚。III级绿 熟悉并且会查干涉色色谱表（P44），在最大双折率、薄片厚度和干涉色3个参数中已知2个，查另1个 补色法则定义和内容（同名半径平行光程差相加R=R1+R2;异名半径平行光程差相减R=R1-R2；若异名半径平行且R1=R2，则视域黑暗，叫消色） 石膏试板、云母试板和石英楔的有关参数（光程差，干涉色，升降级序/色序），加入试板后的结果 确定干涉色级序常用的方法和原理（楔形边法必须是I级灰开始，红色n+1; 石英楔法必须消色再移出，红色n+1） 消光角定义和测定步骤 晶体延性的定义与正负规定。晶体延性测定方法 在正交偏光下可以观察矿