X射线衍射分析.ppt

Deliang Chen，Zhengzhou University X射线衍射分析实验 陈德良 博士 副教授 1、实验目的及要求 了解X射线衍射仪的结构和工作原理； 掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤； 初步了解X射线衍射定量分析的原理方法； 给定实验样品，设计实验方案，做出正确的定性分析鉴定结果。 2、 实验原理 2.3 X射线鉴定物相的原理 3、X射线衍射仪的构造 4、实验参数选择 5、样品制备 6 样品测试 工作电压设定为3?～?5倍的靶材临界激发电压。选择管电流时功率不能超过X射线管额定功率，较低的管电流可以延长X射线管的寿命。 4.2 管电压和管电流的选择 X射线管经常使用的负荷(管压和管流的乘积)选为最大允许负荷的80％左右。但是，当管压超过激发电压5倍以上时，强度的增加率将下降。所以，在相同负荷下产生X射线时，在管压约为激发电压5倍以内时要优先考虑管压，在更高的管压下其负荷可用管流来调节。靶元素的原子序数越大，激发电压就越高。由于连续X射线的强度与管压的平方呈正比，特征X射线与连续X射线的强度之比，随着管压的增加接近一个常数，当管压超过激发电压的4～5倍时反而变小，所以，管压过高，信噪比P/B将降低，这是不可取的。 发散狭缝（DS）决定了X射线水平方向的发散角，限制试样被X射线照射的面积。如果使用较宽的发射狭缝，X射线强度增加，但在低角处入射X射线超出试样范围，照射到边上的试样架，出现试样架物质的衍射峰或漫散峰，对定量相分析带来不利的影响。因此有必要按测定目的选择合适的发散狭缝宽度。??? 4.3 发散狭缝的选择（DS） 生产厂家提供1/6°、1/2°、1°、2°、4°的发散狭缝，通常定性物相分析选用1°发散狭缝，当低角度衍射特别重要时，可以选用1/2°（或1/6°）发散狭缝。 防散射狭缝用来防止空气等物资引起的散射X射线进入探测器，选用SS与DS角度相同。 4.4?防散射狭缝的选择（SS） 生产厂家提供0.15mm、0.3mm、0.6mm的接收狭缝，接收狭缝的大小影响衍射线的分辨率。接收狭缝越小，分辨率越高，衍射强度越低。通常物相定性分析时使用0.3mm的接收狭缝，精确测定可使用0.15mm的接收狭缝。 4.5?接收狭缝的选择（RS） ??Z滤??Z靶－(1～2):?????Z靶??40,? Z滤=?Z靶－1??Z靶??40,? Z滤=?Z靶－2 常规物相定性分析常采用每分钟2o或4o的扫描速度，在进行点阵参数测定，微量分析或物相定量分析时，常采用每分钟(1/2)o或(1/4)o的扫描速度。 4.6 滤波片的选择： 不同的测定目的，其扫描范围也不同。?当选用Cu靶进行无机化合物的相分析时，扫描范围一般为90o～2o（2θ）；对于高分子，有机化合物的相分析，其扫描范围一般为60o?～2o；在定量分析、点阵参数测定时，一般只对欲测衍射峰扫描几度。 4.7 扫描范围的确定 4.8?扫描速度的确定 衍射仪测试条件参数选择一览表 X射线衍射分析的样品主要有粉末样品、块状样品、薄膜样品、纤维样品等。样品不同，分析目的不同（定性分析或定量分析），则样品制备方法也不同。 X射线衍射分析的粉末试样必需满足这样两个条件：晶粒要细小，试样无择优取向(取向排列混乱)。所以，通常将试样研细后使用，可用玛瑙研钵研细。定性分析时粒度应小于44微米(350目)，定量分析时应将试样研细至10微米左右。较方便地确定10微米粒度的方法是，用拇指和中指捏住少量粉末，并碾动，两手指间没有颗粒感觉的粒度大致为10微米。 5.1 粉末样品 常用的粉末样品架为玻璃试样架，在玻璃板上蚀刻出试样填充区为20×18mm2。玻璃样品架主要用于粉末试样较少时(约少于500mm3)使用。充填时，将试样粉末一点一点地放进试样填充区，重复这种操作，使粉末试样在试样架里均匀分布并用玻璃板压平实，要求试样面与玻璃表面齐平。如果试样的量少到不能充分填满试样填充区，可在玻璃试样架凹槽里先滴一薄层用醋酸戊酯稀释的火棉胶溶液，然后将粉末试样撒在上面，待干燥后测试。 先将块状样品表面研磨抛光，大小不超过20×18mm2,?然后用橡皮泥将样品粘在铝样品支架上，要求样品表面与铝样品支架表面平齐。 5.2?块状样品 5.3.?微量样品 取微量样品放入玛瑙研钵中将其研细，然后将研细的样品放在单晶硅样品支架上（切割单晶硅样品支架时使其表面不满足衍射条件），滴数滴无水乙醇使微量样品在单晶硅片上分散均匀，待乙醇完全挥发后即可测试。 5.4.?薄膜样品制备： 将薄膜样品剪成合适大小，用胶带纸粘在玻璃样品支架上即可。 * * dlchen@zzu.edu.cn 当X射线以?角入射到原子面并以?角散射时，相距为a的两原子散射X射线的光程差为： 2.1 布拉格定律 ? = a（cos?