校外用户-微电子学系-北京大学.doc

北京大学微纳电子学研究院测试实验室集成电路测试服务申请书 编号： 电路型号(必填)： 电路名称： 申请单位： 申请人(测试人)： 负责人： Email： 职务： 电话： 电话： 手机： 传真： 地址（含邮编）： 测试开始日期： 预计结束日期： 测试内容及要求简介： 负责人签字： 审核人签字：  服务类型 封装后测试服务 封装型号：（若不常用请另附封装厂提供的图纸说明），样品数量： 封装插座代购 提供母板 测试负载板设计（子板）* 测试负载板制作（子板）* 测试负载板设计（大板） 测试负载板制作（大板） 提供stiffener COB（邦线）测试服务 COB基板设计 COB基板制作 圆片测试服务 探针卡设计 探针卡制作 测试向量转换 功能仿真VCD文件共个，最多周期数：，总时钟周期数： WGL、STIL文件共个，其中最大扫描深度：，总扫描深度： 测试程序开发 测试项目开发调试 在线测试机台租用 离线工作站租用 其他服务： 电路类型 数字电路 组合逻辑电路 时序逻辑电路 存储器电路 数字信号处理电路 微处理器电路 接口和控制电路 编/解码电路 其他数字电路： 模拟电路 运算放大器 调制/解调电路 稳压器 比较器 其他模拟电路： 数模混合电路 A/D转换器 D/A转换器 其他数模混合电路： PLL电路 模拟PLL电路 数字PLL电路 混合PLL电路 SOC电路（在上面选中所包含模块电路类型） 其他电路： 测试类型 交流测试，时钟范围：～MHz，或周期：～ns 功能测试 时序测试 扫描链测试 直流测试 连接性测量 高阻态测量 输入漏电流 输入电平测试 输出电平测试 通用PMU测量 工作电流(动态功耗) 待机电流(静态功耗) IDDQ测试 DAC测试，位数：bit，采样时钟～ INL, DNL THD，正弦波频率 SND SNR SFDR ADC测试，位数：bit，采样时钟～ INL, DNL SND NEFF THD，正弦波频率 SNR SFDR PLL测试（需使用TIA），信号频率：MHZ 抖动(RMS Jitter) 抖动(P-P Jitter) 频率 周期 脉宽 传播延迟 参数扫描测试 参数1：，范围～，步进 参数2：，范围～，步进 参数3：，范围～，步进 参数4：，范围～，步进 参数5：，范围～，步进 参数6：，范围～，步进 参数7：，范围～，步进 参数8：，范围～，步进 参数9：，范围～，步进 其它测试  器件封装 封装型号：，封装管脚数：，实际连接数：，未连接数： 测试仪资源 管脚数 管脚号 数字通道（包括作直流偏置，=256） P600通道（最高660Mbit/s，=16） 数字输入端口 数字输出端口 数字双向端口 恒流源类偏置 恒压源类偏置 单端模拟输入（接WGD） 差分模拟输入（接WGD） 单端模拟输出（接WDD） 差分模拟输出（接WDD） PLL输出（接TIA） CORE电源 CORE地线 PAD电源 PAD地线 模拟电源 模拟地线 注： 管脚号之间用英文逗号“,”隔开，芯片内部已相连的管脚号请用英文括号“()”括起来。 测试资源详情请参考/testlab/service.htm，点击相关PDF文件。 256路数字通道都可做数字i, o, io，每一通道有独立的PMU可作为恒流源、恒压源偏置或电压、电流检测。 通用电源GPDPS共4路，一般用作数字部分CORE和PAD电源；低噪声电源LNDPS共2路，一般用作模拟部分电源。 任意波形发生器WGD单端输出时共8通道，最多4通道同时可用，信号相同，差分输出时共4对通道，最多2对通道同时可用，信号相同。 采样仪WDD单端输入时共8通道，任1通道同时可用，差分输入时共4通道，任1对通道同时可用。 时隙仪TIA输入共7通道，任1通道同时可用，测传播延迟时任2通道同时可用。 管脚同时接测试仪多种资源时要另文说明，差分管脚需标识清楚正负端。  芯片管脚定义表 填表说明： 管脚号为器件封装的管脚号；若有VCD、WGL、STIL测试向量文件，则管脚名称要与VCD、WGL和STIL文件中管脚名称相同，且小于16个字符。“测试仪连接”暂不填。 类型： 数字输入 数字输出 双向端口 电压偏置 电流偏置 模拟输入 模拟输出 PLL输出 Core电源 Pad电源