介损测试原理及应用(2014-03)概要.ppt

『介损测试仪现场使用注意事项』 影响tgδ的因素 Text in here Text in here 3、电压的影响 当外加电压升高时，tgδ与电压无直接的关系，只有在电压上升到某一数值，即达到介质的局部放电起始电压以上时，tgδ才急剧增加。因为在一定的交变电压作用下，介质中局部（夹杂的气泡或杂质）电场可能很强，从而首先放电，产生附加损耗，使tgδ随着电压的升高而增加。也有一部分试品在电压升至一定值时介损值出现下降的情况。因此在较高电压下（设备额定工作电压下）测量tgδ，可以比较真实地反映设备的绝缘状况，便于及时准确地发现设备的绝缘缺陷。 『介损测试仪现场使用注意事项』 常规介损测试仪选型方法 Text in here Text in here 测量功能 如内接、外接、正接线、反接线、 自激法CVT测量等 试验电压范围 常规介损一般10kV， 额定电压介损根据要求确定 测试电流范围 常规介损一般 5uA～1A， 高压介损需要更大测试电流 测量精度 现场用一般应满足±（1%读数+0.05%）, 实验室用需要更高要求 抗干扰方式 工频抗干扰或变频抗干扰 『介损测试仪现场使用注意事项』 介损测试仪现场使用注意事项 Text in here Text in here 介损偏大或不稳定 可能挂钩或测试夹子接触不良，接地不良等。 仪器接地应尽量靠近被试品。另外判断是否受到强干扰影响。 介损值偏小 通常测量电容很小的试品时受到T型网络影响，通过改变测试线角度， 擦拭烘干设备表面等措施加以改善。另外也可能受干扰影响。 仪器不能升压 检查设备接地刀闸是否打开，拔出测试线后升压，若还是不能排除， 可以判断仪器内部故障。 CVT方式不能测量 用万用表测量自激电压输出，检查C2下端接地是否打开， 检查中间变压器尾端X是否接地。 轻载或过载 检查高压测试线是否击穿，芯线是否断线，芯线与屏蔽是否短路。 反接线电容偏大 反接线时测试夹对地附加电容会带来测量误差， 可采用全屏蔽的测试线提高测量精度。 * * * 电压作用下电介质中产生的一切损耗称为介质损耗或介质损失。如果介质损耗很大，会使电介质温度升高，促使材料发生老化，如果介质温度不断上升，甚至会把电介质融化、烧焦，丧失绝缘能力，导致热击穿，因此，电介质损耗的大小是衡量绝缘介质电性能的一项重要指标。 然而不同设备由于运行电压、结构尺寸等不同，不能通过介质损耗的大小来衡量对比设备好坏。因此引入了介质损耗因数tgδ（又称介质损失角正切值）的概念。 介质损耗因数的定义是： 介质损耗因数tgδ只与材料特性有关，与材料的尺寸、体积无关，便于不同设备之间进行比较。 『测量介质损耗因素的意义』 测量介质损耗因素的意义 等效模型： 当对一绝缘介质施加交流电压时，介质上将流过电容电流I1、吸收电流I2和电导电流I3，如图所示。其中反映吸收过程的吸收电流，又可分解为有功分量和无功分量两部分。电容电流和反映吸收过程的无功分量是不消耗能量的，只有电导电流和吸收电流中的有功分量才消耗能量。 『测量介质损耗因素的意义』 测量介质损耗因素的意义 为了讨论问题方便，可进一步将等值电路简化为由纯电容和纯电阻组成的并联和串联电路。 并联模型 串联模型 『测量介质损耗因素的意义』 测量介质损耗因素的意义 『测量介质损耗因素的意义』 测量介质损耗因素的意义 测量介质损耗因数tgδ判断电气设备的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方法。它能反映出绝缘的一系列缺陷，如绝缘受潮，油或浸渍物脏污或劣化变质，绝缘中有气隙发生放电等。这时流过绝缘的电流中有功分量IRX增大了，tgδ也加大。 按照电力设备预防性试验规程的规定，对多种电力设备（如电力变压器、发电机组、高压开关、电压电流互感器、套管、耦合电容等）都需要做介质损耗因素（tgδ）的测量。 所以tgδ试验是一项必不可少而且非常有效的试验。能较灵敏地反映出设备绝缘情况，发现设备缺陷。 tgδ试验与发现缺陷的关系 对绝缘的分布性缺陷反映很灵敏。介质损耗因素试验所测定的是整体的tgδ值，能对绝缘的整体受潮、劣化变质等分布性缺陷产生直接的，明显的反映。因此，电气设备交接和预防性试验中，介质损耗因素（tgδ）项目已得到广泛的应用。 对大体积绝缘的集中性缺陷反映不灵敏，试品的体积越大，就越不灵敏。因此，对大容量的变压器、整个发电机绕组以及较长的电力电缆进行tgδ试验时，只能发现它们的分布性缺陷，而不容易发现可能存在的集中性缺陷。