电子技术实验课件-比例求和运算电路.pptVIP

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2017-03-15 发布于上海
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电子技术实验课件-比例求和运算电路.ppt

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实验　比例求和运算电路电子技术实验电工电子教学中心河北工业大学电气与自动化学院一、实验目的五、思考题四、实验内容与步骤三、预习要求二、实验仪器实验比例求和运算电路一、实验目的返回 1. 掌握用集成运算放大电路组成比例、求和电路的特点及性能。 2. 对上述电路进行测试和分析。 1. 示波器二、实验仪器 3. 数字万用表 2. 信号发生器 1. 计算表1中的V0和Af 三、预习要求返回 2. 估算表3的理论值 3. 估算表4、表5中的理论值 4. 计算表6中的V0值 5. 计算表7中的V0值 1. 电压跟随电路,如图26-1所示。四、实验内容与步骤图26-1 电压跟随电路相对误差 RL=5K1 RL=∞ V0（V）＋1 ＋0.5 0 －0.5 －2 Vi（V）表 1 实验电路板的连接如下。 -2.00 －2 -2.00 －2 －2 +12V -12V 直流电压Ｖｉ测电压Ｖo ２. 同相比例放大器实验电路如图26-2所示。图26-1 同相比例放大电路按表2内容测量并记录实验数据。实验电路板的连接如下。直流电压Ｖｉ测电压Ｖo +12V -12V ３．反相比例放大器４．反相求和放大电路５. 差动放大电路以上实验内容与1、2相似，参考实验讲义。返回 ⒈ 总结：本实验中5种运算电路的特点及性能。五、思考题 ⒉ 分析：理论计算与实验结果误差的原因。返回缺陷工程在硅片的器件有源区形成洁净层在体内形成高密度缺陷,成为杂质吸除源缺陷工程在硅片的器件有源区形成洁净层在体内形成高密度缺陷,成为杂质吸除源