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授课教师:申继伟 电话第一章 半导体二极管及其电路分析 半导体器件是构成电路的基本元件,构成半导体器件的材料是经过加工的半导体材料,因此半导体材料的性质在很大程度上决定了半导体器件的性能。 制造半导体器件的材料不是本征半导体,而是人为的掺入杂质的半导体,目的是为了提高半导体的导电能力 掺入杂质对本征半导体的导电性有很大的影响。 N型半导体:电子为多子,空穴为少子 载流子数≈自由电子数 施主原子提供电子,不能移动,带正电。 结论 思考题 N型半导体:电子为多子,空穴为少子 载流子数≈自由电子数 施主原子提供电子,不能移动,带正电。 二极管的单向导电性应用很广,可用于:限幅、整流、开关、检波、元件保护等。 三、应用 例1:电路如图,求流过稳压管的电流IZ,R是否合适? 例2:电路如图,IZmax=50mA,R=0.15KΩ, UI =24V, IZ=5mA, UZ=12V,问当 RL = 0.2K Ω 时,电路能否稳定,为什么?当 RL = 0.8K Ω 时,电路能否稳定,为什么? 例3、电路如图,UI =12V ,UZ=6V ,R=0.15KΩ ,IZ=5mA,IZMAX=30mA,问保证电路正常工作时RL 的取值范围 例4:已知u=10sin(?t)V ,UZ= 6V, IZ=10mA , Izmax=30mA, 画出uo的波形,并求限流电阻R的最小值。 例5:已知u=10sin(?t)V ,UZ= +6V, IZ=10mA , Izmax=30mA, 画出uo的波形,并求限流电阻R的最小值。 例6:已知u=3sin(?t)V ,UZ= 6V, IZ=10mA , Izmax=30mA, 画出uo的波形,并求限流电阻R的最小值。 解: 解: 1.2.2 二极管的伏安特性 半导体二极管 二极管的伏安特性曲线可用下式表示 正向特性 Uth 死区 电压 反向特性 IS O uD /V iD /mA -U (BR) 反向击穿 U 一 正向特性 iD = 0 Uth = 0.5 V 0.1 V (硅管) (锗管) U ? Uth iD 急剧上升 0 ? U ? Uth UD(on) = (0.6 ? 0.8) V 硅管 0.7 V (0.1 ? 0.3) V 锗管 0.2 V O uD /V iD /mA 正向特性 Uth 反向特性 IS -U (BR) 反向击穿 -U(BR) ? U ? 0 iD = IS (硅) 0.1 ?A 几十 ?A (锗) U -U(BR) 反向电流急剧增大 (反向击穿) 二 反向特性 O uD /V iD /mA 正向特性 Uth 反向特性 IS -U (BR) 反向击穿 硅管的伏安特性 锗管的伏安特性 60 40 20 – 0.02 – 0.04 0 0.4 0.8 –25 –50 iD / mA uD / V iD / mA uD / V 0.2 0.4 – 25 – 50 5 10 15 –0.01 –0.02 0 三 反向击穿特性: 电击穿 热击穿 反向击穿原因: 齐纳击穿: (Zener) 反向电场太强,将电子强行拉出共价键。 (击穿电压 6 V) 雪崩击穿: 反向电场使电子加速,动能增大,撞击 使自由电子数突增。 — PN 结未损坏,断电即恢复。 — PN 结烧毁。 (击穿电压 6 V) 四 温度对二极管特性的影响: 60 40 20 – 0.02 0 0.4 –25 –50 iD / mA uD / V 20?C 90?C 随着温度的升高, 正向特性曲线左移,即正向压降减小; 反向特性曲线下移,即反向电流增大。 一般在室温附近,温度每升高1℃,其正向压降减小2-2.5mV;温度每升高10℃,反向电流大约增大1倍左右。 半导体二极管 1.2.3 二极管的参数 1. IF — 最大整流电流(二极管长期连续工作时允许通过的最大正向平均电流 ) 2. UBR — 管子反向击穿时的电压 半导体二极管 3. URM — 最高反向工作电压,实际上只按照U(BR) 的一半来计算 4. IR — 反向电流(管子未被击穿前的反 向电流,该值越小单向导电性越好) 6. fM — 最高工作频率(二极管工作的 上限频率,超过该频率时,结电容起 作用,不能很好的体现单相导电性)。 5.UD(on) —导通电压:二极管在正向电压工作时,管两端会产生正向电压降,其压降值越小管越好。硅为0.7V,锗为0.2V。 半导体二极管 半导体二极管的型号 国家标准对半导体器件型号的命名举例如下: 半导体二极管
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