材料方法B解说.ppt

第四章 多晶体分析方法 §4.1 引言 ㈡.德拜相机 三. 摄照规程的选择 2 试样吸收的误差 3 底片伸缩的误差 底片的安装使R也存在误差，可以通过底片卷成圆筒形时的有效周长C0来计算准确的R. C0的测量—可通过2θ90?和2θ90 ?的两对弧对求出， C0 = A+B 所以： 以立方晶系为例（底片为偏装） 1 对各弧对标号：从低角到高角依次标1—1’,2—2’… 2 测量有效周长C0 3 测量弧对间距，注意测量2L外缘，计算出2L0,高角弧对的测量用C0减去相对应的低角弧对，即2L=C0-2L’ 4 计算θ角。 5 计算d值。 6 估计各线条的相对强度I/I1 7 查PDF卡片，根据三强峰对应的d值，鉴定物相。 8 衍射线指标化，判别物质的点阵类型 对于立方系： 衍射线的干涉指数 9 计算点阵常数 根据公式 第三节 其他照相法简介 对称聚焦照相法 1 思路： 同类（HKL）面的衍射线分布在衍射圆锥上，单位弧长上的衍射强度较弱，底片曝光时间很长，若能将同类（HKL）面的衍射线集中于一点，则大大提高衍射强度。 2 聚焦相机的衍射几何 将光源（发散光源）、试样以及反射线的聚焦点设在同一圆上（该圆称为聚焦圆），该圆与相机的内腔重合，底片贴于圆内侧。 由光源发出的X射线经试样上不同部位的同类（HKL）晶面反射后衍射线仍能聚集于一点。（为什么？） 3 优点 分辨本领高，有利于摄取高θ角的衍射线（如图2θ 90o），常用于点阵常数的测量。 二 背射平板照相法 思路： 德拜法摄取的是衍射圆弧中的部分弧对，但当需要分析晶粒大小、择优取向、晶体完整性等一些信息时就需要拍摄整个圆环——平板照相法采用平板相匣（底片）达到此目的。 2 衍射几何 光源（发散）、试样、衍射线聚焦点位于同一圆上，平板底片位于背散射位置，衍射花样为一系列同心圆环，每摄取一个花样，试样和平板底片间的距离都要改变（根据d值计算改变） 3 用途： 在已知物相和晶体结构的基础上分析晶体的完整性、择优取向、晶粒大小等信息。 三 晶体单色器 1 目的：产生单色纯净的X射线，用于衍射分析时的光源。 2 思路：选择反射本领强的单晶体，其表面制作成与某个反射本领大的晶面平行，当一束多色的X射线照到单晶上后只有符合布拉格方程的单色X射线才能衍射，利用聚焦圆将单色的衍射线汇聚到预分析的试样上，再进行衍射分析。 目前常用的单色器为石墨晶体，利用其（0002）面族反射CuKα射线，对其进行单色化处理。 §4.4 X射线衍射仪 2 光源—由S发出的发散光束，样品—采用平板试样 3 测量动作：样品台与测角仪台可绕O轴转动,当样品表面相对入射X-ray转过θ角，测角仪台相对于入射线转动2θ角，这一动作称为θ-2θ连动。 扫描时：计数管的角位置（2θ）可从刻度K上直接读出，计数管从2θ=3°～160°进行转动，记录下每个2θ角方向衍射线对应的强度，并绘制成图——衍射图。 问题： 1同类（HKL）晶面的衍射线怎样才能聚焦于接受狭缝F? 2为何θ-2θ连动就可记录下所有晶面的衍射线？（计数管如何能刚好转到有衍射线的位置？） （二） 测角仪的衍射几何 1 聚焦问题：使点光源S、 试样表面、接受狭缝F必须位于同一圆上——聚焦圆，（此时，同一（HKL）面的衍射线与入射线形成的圆周角均为π-2θ，故能聚焦） 2 为何θ-2θ连动就可记录下所有晶面的衍射线？（计数管如何能刚好转到有衍射线的位置？） 注意：在衍射仪法中能参与衍射的晶面是与表面平行的晶面。 因此，当试样表面与入射线的夹角为θ，且连续从小θ角向大θ角转动时，计数管沿测角仪圆以2θ角连动，当某个（hkl）面刚好满足布拉格方程产生衍射线时，计数管刚好处于2θ角方向记录下衍射线。 （三）测角仪的光学布置 （四）对试样的要求 粉末试样不能过细或过粗，粒度在几微米~几十微米较合适。 太细：衍射线宽化，妨碍弱衍射线的出现，干扰分析。 太粗：参与衍射的晶面太少，衍射强度不稳定，也会干扰分析。 一般用粉末压制成的平板试样，也可采用多晶块状试样。 二 衍射仪的测量方法 2. 阶梯扫描法（步进扫描法——常用于定量分析工作） 测量参数（自学） X射线衍射仪的主要组成及功用 本 章 结 束 组成部分： X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元、自动控制单元等。 优点： （1）工作效率高（照相法底片处理时间长）; （2）探测器灵敏度高; （3）样品范围广，制样简便; （4）分析快速，结果直观。 X射线衍射仪是采用辐射探测器和测角仪来记录衍射线位置和强度的分析仪器。 X射线衍射仪的测量原理：