材料分析方法试卷A.docVIP

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2017-03-30 发布于江苏
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材料分析方法试卷A.doc

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材料分析方法试卷A

贵州大学2009-2010学年第二学期考试试卷 A 材料分析方法一、名词解释（共12分,每小题3分）相干散射、激发限、系统消光、结构因子、球差、景深、焦长、衍射衬度、暗场像、二次电子、化学位移 1. 荧光辐射 2. 倒易矢量 3. 结构因子 4. 明场像二、填空题（共27分,每空1分） 1．用于衍射分析的X射线的波长范围为。 2．波长和频率是描述X射线X射线K(特征谱线是原子中壳层的电子跃迁到K(的倍λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是，相邻两个（HKL）晶面的波程差是。 6. 面心立方结构晶体产生消光的晶面指数条件为。 7. X射线衍射X射线衍射分析方法主要是和两种。 10.电磁透镜的AC=100mm，电子束在样品上的扫描振幅AS=0.01mm，则扫描电镜此时的放大倍数为倍。 14. 扫描电镜的两种常用成像信号中，既反映表面形貌衬度又反映原子序数衬度的是。 15. 波谱仪是，能谱仪是。 16. X射线光电子能谱分析中，导电固体样品产生光电效应时的光电方程表达式为。 17. 扫描隧道显微镜的成像信号为，而原子力显微镜是通过检测针尖—样品间的来成像的。三、问答题（共35分） 1. (8分)（1）推导布拉格方程；（2）为什么说衍射方向反映了晶胞的形状和大小。 2. (9分)X射线衍射强度， (1)说明五个影响因名称。. （14分）残余奥氏体的电子衍射花样如图，已知，，R1和R2之间的夹角为70o，Lλ=2.05mm?nm， (1) 标定斑点指数; (2) 计算晶带轴指数[uvw]； (3) 验证该物相。已知(-Fe的点阵常数为。 2. （共12分，每小题2分）下列分析内容选用何种仪器进行分析?层的物相鉴定；nm深的污染物成分分析； (5) 金属断口形貌及其断口上粒状夹杂物的化学成分； (6) 超细粉末形状、大小及结构测定。第 1 页共 3 页