第一章-噪声的基本知识讲述.ppt

光电信号处理 1.2 噪声的基本知识 1.2.1 噪声的基本概念 1.2.2 光电探测器的噪声 1.2.1 噪声的基本概念 光电系统是光信号的变换、传输及处理的系统。 包含光学系统、光电探测器、电子系统等。 系统在工作时，总会受到一些无用信号的干扰， 例如：光电变换中光电子随机起伏的干扰； 辐射光场在传输过程中受到通道的影响； 背景光的干扰； 放大器引入的干扰等等。 这些非信号的成分统称为噪声 ●广义噪声的定义： 任何叠加在信号上的不希望的随机扰动或干扰统称为噪声。 ●这些干扰及扰动主要来自两方面： (1)来自光电系统的外部 (2)来自光电系统内部 来自光电系统外部的噪声——干扰 ●通常由电、磁、机械、杂散光等因素所引起，这种干扰绝大多数是“人为的”， 如： 电源50H z 干扰； 工业设备电火花干扰等。 ●一般具有规律性，采取适当的措施(如屏蔽、滤波、远离噪声源等)可以将其减小或消除。 ●对系统的可靠性、稳定性影响很大 系统的抗干扰能力 对外部的理解：以被动光电系统为例 来自光电系统内部——噪声 ●系统内部的材料、器件或固有的物理过程的自然扰动。 例如： 导体中带电粒子无规则运动引起的热噪声， 光探测过程中光子计数引起的散粒噪声等。 ●这些过程是随机过程，它既不能预知其精确大小及规律，也不能完全消除， 但其遵循的统计规律、也可以通过一些措施来控制。 ●系统内部的噪声： ●噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 ●一个光电探测系统的极限探测能力往往由探测系统的噪声所限制。 在精密测量、通讯、自动控制、核探测等领域，减小和消除噪声是十分重要的问题， 是提高光电系统性能指标的关键。 1.2.2 光电探测器的噪声 探测器的噪声主要有： ●热噪声 ●散粒噪声 ●产生—复合噪声(g—r噪声) ●温度噪声 ● 1/? 噪声。 ● 固定图案噪声 1．热噪声 ●热噪声是由耗散元件中电荷载流子的随机热运动引起的。 ●任何一个处于热平衡条件下的电阻，即使没有外加电压，也都有一定量的噪声，这是由于电阻体内电子的热运动所引起的。 ●但是考虑流过S面的电子数的均方偏差，则不为零。 这样在AB两端就应出现一电压涨落。 这一电压涨落1928年为琼斯(Johnson)的实验所证实。同时奈奎斯特推导出热噪声功率为： 式中：R为电阻或阻抗元件的实部（单位为欧姆）； K为玻耳兹曼常数：1.38×10-23 J / K； T为导体的绝对温度（K）； 为测量带宽。 如用噪声电流表示则为: ●例如：若一个1KΩ的电阻，在1Hz带宽内，室温T=290K，则可求得均方根热噪声电压为4nV。 ●热噪声属于白噪声频谱， 一般说来，高端极限额率为： ＝0．15kT×1034Hz=2.07T×1010Hz 由上式可知， 与电阻的温度T有关。 在室温下(T＝290k)， ≈ 6×1012Hz， 一般电子学系统工作频率远低于该值， 故可认为热噪声为白噪声频谱。 ●研究信号时，通常在频率域中（简称频域）进行研究，定义功率谱密度 ： ● S（ f ）的物理意义代表了单位带宽内的噪声电压的均方值，也就是单位带宽内的噪声，通常称为功率谱密度。 对热噪声：S(f )=4KTR 与频率无关，为白噪声。 ●白噪声的定义： 噪声在整个频带内均匀分布的噪声 ●电阻器的热噪声等效模型 ： 一个实际的电阻R产生的热噪声电压， 可以用一个噪声电压源En和一个无噪声电阻R相串联的二端网络来表示； 或者用一个噪声电流源In与一个无噪声电阻R相并联的二端网络来表示。 例如：室温条件下R＝1kΩ的电阻，在带宽1Hz内的均方根热噪声电压值约为4nV； 若工作带宽为500kHz的系统，放大器增益为103，则在放大器输出端的热噪声均方根电压约2.8mV。 在微弱信号探测中，这对于信号来讲是一个不可忽视的量。 2．散粒噪声 ●探测器的散粒噪声是由于探测器在光辐射作用或热激发下，光电子或光生载流子随机产生所造成的。 由于随机起伏是一个一个的带电粒子或电子引起的，所以称为散粒噪声。 ●散粒噪声存在于光电子发射器件、光生伏特器件中。 ●从阴极发射电子过程来看，它们是完全无规则的。任一短时间τ内发射出来的电子决不会总是等于平均数，而是围绕这一平均数有一涨落。 ●从涨落的均方偏差可求出散粒噪声功率为： 式中