金属电子逸出功的测量与分析.docVIP

金属逸出功的测量与分析 2009年10月11日 物理工程与技术学院 光信息科学与技术07级1班 实验人：乐广龙 参加人： 林 铭 【实验目的】 1， 了解费米狄拉克量子统计规律； 2， 理解热电子发射规律和掌握逸出功的测量方法； 3， 用理查逊直线法分析印记材料（钨）的电子逸出功。 【实验原理】 （1） 电子需要Wo=Wa-Wf才能逸出。 （2） 热发射电流密度 （3） A.由于A以及面积S难以测量: 则与为线性关系,利用此方法实验称理查逊直线法。 B.发射电流测量加入电场,电流作相应修正: 在选定温度下:,由直线斜率可得零场发射电流 C.温度测量由关系曲线得出。 【实验内容】 1， 按电路图连接电路，注意与勿连接错误； 2， 取灯丝电流为0.600、0.625、0.650…0.775A，求得灯丝温度； 3， 对应每灯丝电流，测量阳极电压分别为25、36、49、64、81、100、121及144V对应阳极电流，阳极电压先粗调，再微调。 4， 作图，采用拟合方法求； 5， 作图，拟合出逸出功与实验误差。 【实验结果与分析】 1， 灯丝温度转换如表1 If/A 0.600 0.625 0.650 0.675 0.700 0.725 0.750 0.755 T/k 1880 1920 1960 2000 2040 2080 2120 2128 表1 灯丝温度 2， 对应阳极电流以及求有下表（原始数据见预习报告）： T/K 1880 1920 1960 2000 2040 2080 2120 2128 25V -2.8302 -2.2256 -1.6348 -1.1026 -0.5639 -0.08338 0.415415 0.48243 36V -2.8134 -2.2073 -1.6145 -1.0847 -0.5465 -0.05235 0.427879 0.49592 49V -2.7969 -2.1893 -1.5995 -1.07 -0.5293 -0.03666 0.451076 0.50742 64V -2.7806 -2.1716 -1.5799 -1.0385 -0.5125 -0.02122 0.468127 0.5265 81V -2.7646 -2.1542 -1.5654 -1.0217 -0.4959 -0.00501 0.487966 0.54349 100V -2.7489 -2.1371 -1.5187 -1.0051 -0.4797 0.01094 0.49774 0.5579 121V -2.7181 -2.1203 -1.5325 -0.9889 -0.462 0.026642 0.511625 0.57098 144V -2.7031 -2.1037 -1.5187 -0.9755 -0.4479 0.044973 0.526502 0.58779 lnIs= -2.92396 -2.31158 -1.72017 -1.1958 -0.64635 -0.16148 0.33606 0.4044 Is= 0.05372 0.0991 0.17904 0.30246 0.52395 0.850884 1.399423 1.4984 表2阳极电流以及、 3， 作如下图1~8： 图1~8 4，作图以及求钨电子逸出功 ln(Is/T2) -18.002 -17.432 -16.398 -15.888 -15.442 -14.982 -14.921 -14.921 1/T 0.00053 0.00052 0.00051 0.0005 0.00049 0.000481 0.000472 0.00047 表3 数据 用origin作图有： 图9 再做线性拟合，origin结果有： [2009/11/4 12:12 /Graph2 (2455139)] Linear Regression for DATA1_B: Y = A + B * X Parameter Value Error ------------------------------------------------------------ A 8.47811 0.14054 B -49746.96557 282.53898 ------------------------------------------------------------ R SD N P ----------------