Comparison-of-Key-PV-Backsheet-and-Module-Properties.pdf

组件的可靠性、耐久性和安全性 为光伏组件选择最佳背板 付波 光伏氟材料 技术专家 杜邦电子与通讯事业部 2013年8月8日 ? DuPont 2013 内容简介 ? 户外老化：Tedlar?背板与其它背板 ? 背板加速老化测试 - 湿热老化 - 紫外老化 - 综合老化 2 ? DuPont 2013 背板性能对组件的可靠性、耐久性和安全运行至关重要 3 与EVA或接线盒脱层 层间脱层 开裂和撕裂 发黄 绝缘失效 Time P o w e r O u t p u t 可靠性 P o w e r O u t p u t Time 耐久性 安全 人员损伤 品牌受损 影响销售 质保索赔 降低经济回报 背板失效 组件失效 潜在影响 ? DuPont 2013 30年寿命晶硅组件封装材料 (NASA) 上世纪70年代起美国能源部指定美国航空 航天局NASA的JPL实验室设计30年寿命晶硅 组件 JPL实验室进行了5轮组件户外老化和实验 室测试，以达到30年寿命晶硅组件的可靠 性﹑耐久性和安全性 JPL实验室对背板材料进行了超过10000小 时的紫外综合老化测试 该研究项目形成了现在的IEC 61215和UL 1703测试标准，以检测组件在户外老化试 验所发现的失效模式 该研究形成了安全可靠晶硅组件的标准结构: 玻璃/EVA/Tedlar ? 背板 该研究项目使得组件失效比率从45%下降到0.1% Source: NASA JPL ? DuPont 2013 5 0 5 10 15 20 25 30 35 Specialty PET Polyamide (PA12) Other Single Sided Fluoro (e.g. PVDF) Standard PET Tedlar? Years of Backsheet Use in PV Modules 只有Tedlar ? 背板在长期光伏组件使用中验证了具有 较低功率衰减 JRC和AIST两个户外研究表明采用Tedlar ? 背 板的晶硅组件功率衰减及其变异程度都较低 其它背板户外实绩验证时间不足以检验其耐久性 Source: 2012 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST) Modules and 2008 Joint Research Centre (JRC) Study* *Artur Skoczek, Tony Sample, and Ewan D. Dunlop, The Results of Performance Measurements of Field-aged Crystalline Silicon Photovoltaic Modules, Wiley InterScience, 2008 Study Backsheet Construction Number of Modules Time in Service (years) JRC Glass 29 20-23 JRC Tedlar? 35 19-23 AIST PET Based 48 5-17 AIST PVF/PET/PVF 40 11-19 ? DuPont 2013 PET 背板 Tedlar ? 背板 使用时 间 标称功率 电池类型 湿漏电流测试 剩余功率 功率总衰减 年平均功率衰减 背板黄色 程度 背板 结论 组件 1 10 年 143 W 单晶 通过 77W 46% 4.6% 9.0 普通 PET 失效 组件 2 12 年 125 W 多晶 未通过 105 W 16% 1.3% 14.2 普通 PET 失效 组件 3 11 年 100 W 单晶 通过 91 W 9 % 0.8% 2.7 Tedlar? 合格 背板影响组件功率衰减案例 背板发黄 背板开裂 1 2 3 ? DuPont 2013 背板在户外失效案例 ? DuPont 2013 行业专家普遍认为背板认证测试中 湿热老化要求过度而紫外老化标准过低 1000小时以上湿热老化与 背板的实绩性能无关 IEC 测试中缺少紫外老化和 耐候性测试 ? PET 水解并非户外老化失效机理 ? Tedlar? TPT?背板材用普通PET已有27年历史 ? NREL实验室的模拟也说明湿热1000小时已经足够 ? 长时间湿热老化导致的PET明显水解过于苛刻，并未模拟到户外失效模式* ? IEC认证测试的紫外剂量只相当于户外70天曝晒 ? 认证测试中并未要求对组件背面进行紫外测试 ? 应对组件背面进行紫外曝晒，综合紫外老化和耐候性测试以更好的了解其 真实户外性能 * John Wohlgemuth, Temperature, Hu