新型原子发射光谱法41695.ppt

第7章 原子发射光谱法; 7.1 概述 7.2 基本原理 7.3 AES仪器 7.4 定性定量分析方法;7.1 概述;2.历史;3. AES特点;7.2 基本原理1.原子发射光谱的产生过程;2. 几个概念;3. AES 定性原理;4. AES定量原理（Quantification）;当Plasm处于热力学平衡状态时，位于基态的原子数N0 与位于激发态原子数Ni 之间满足Boltzmann分布：;2）谱线强度与被测元素含量的关系; 在实际工作中，准确测定谱线的绝对强度是很困难的，所以在光谱定量分析中，常采用谱线强度经验公式即赛伯-罗马金公式： I = acb 在一定的实验条件下，a为常数；c为被测元素的含量；b为自吸系数。 b=1，无自吸；b1，有自吸。b愈小，自吸愈大 ; 在激发光源中，试样经蒸发、原子化和激发，产生大量的气体分子、原子、离子和电子等粒子，这些气态粒子从宏观上看是呈电中性的，称为等离子体。在一般激发光源中等离子体是在弧焰中产生的，弧焰中心温度高，激发态原子多，而弧焰边缘温度相对低，处于基态的原子较多。由弧焰中心发射的辐射穿过弧焰边缘时，被其同类基态气志原子吸收，使谱线的中心强度减弱，这种现象称为自吸。弧焰中被测元素原子浓度越大，弧层厚度也越大，则自吸越严重。在自吸严重时，谱线中心强度几乎完全被吸收，这种现象称为自蚀。 ;3）影响谱线强度I因素:;7.3 AES仪器;一、AES光源;1）火焰（Flame）：利用火焰作为激发光源，仪器装置简单，稳定性高。该仪器通常采用滤光片、光电池检测器等元件，价格低廉，又称火焰光度计。;2）直流电弧（arc）： 接触引燃， 二次电子发射放电;直流电弧特点：;3）交流电弧：高频高压引燃、低压放电;交流电弧特点：;4）高压火花（spark)：高频高压引燃并放电。;火花特点：;5）电感耦合等离子炬(ICP)组成：ICP 高频发生器+ 炬管+ 样品引入系统;ICP炬形成过程:;;观测方式之一：垂直（侧向）观测; 观测方式之二：水平（轴向）观测;1）低检测限：蒸发和激发温度高； 2）稳定，精度高：高频电流--趋肤效应(skin effect)--涡流表面电流 密度大--环状结构--样品引入通道--火焰不受样品引入影响--高??? 定性。 3）基体效应小(matrix effect): 样品处于化学隋性环境（Ar）的高温 分析区--待测物难生成氧化物--停留时间长(ms级)、化学干扰小； 样品处于中心通道，其加热是间接的--样品性质（基体性质，如样品 组成、溶液粘度、样品分散度等）对ICP 影响小。 4）背景小：通过选择分析高度，避开涡流区。 5）自吸效应小：试样不扩散到ICP周围的冷气层，只处于中心通道，即 是处于非局部热力学平衡； 6）分析线性范围宽: ICP在分析区温度均匀；自吸及自蚀效应小。 7）众多无素同时测定：激发温度高（70多种）； 不足：对非金属测定的 灵敏度低；仪器昂贵； 维持费高（Ar消耗大）;2. 光源的选择依据 a）试样的性质：如挥发性、电离电位等 b）试样形状：如块状、粉末、溶液 c）含量高低 d）光源特性：蒸发特性、激发特性、放电稳定性（下表）;3. 电极和试样的引入方式;4. 试样的蒸发与原子激发 AES分析中，试样中各待测物产生光谱都要经过蒸发、原子化和激发等过程。由于试样中各化合物或元素的性质不同，在蒸发进入等离子体时的速度不同，常产生所谓的分镏效应。 此外，试样量、电极形状及温度等均会影响待测物的蒸发形为。以各元素的谱线强度对曝光时间作图可得到蒸发曲线;二、分光系统（略）;2. 相板（又称干板，Plate）;相板定量基础：;有关乳剂特性曲线的讨论：;乳剂特性曲线的绘制：;四、光电直读光谱仪;2）全谱直读等离子体光谱仪;7.4 定性定量分析方法;二、定性分析;为什么选铁谱？;2. 标样光谱比较法;注意：一旦起弧，则不要停弧。在一电流值曝光一段时间后，迅速将电流快速增至下一电流值。;三、半定量分析;四、定量分析;2 内标法公式：;内标元素及内标线的选择原则：;3.定量分析方法 （1）标准曲线法 在确定的分析条件下，用三个或三个以上含有不同浓度被测元 素的标准样品与试样在相同的条件下激发光谱，以分析线强度I或 内标分析线对强度比R或lgR对浓度c或lgc做校准曲线。 再由校准曲线求得试样被测元素含量。