晶体管简易测试题[含答案).ppt

《电子技术基础实验与实训》习题答案;晶体管的简易测试;2．为什么用不同欧姆档测试同一只二极管的阻值会不一样？ 答：不同欧姆档，万用表的中心阻值不同，加到二极管两端电压不等，而二极管是一个非线性器件（由其电压电流特性可知），所以测出的阻值是有差异的。 3．“当分别测得三极管B-E、B-C间正反向电阻一小一大，说明此三极管是好的”。此结论正确吗？为什么？ 答：此结论不正确。还要求C、E间正反向电阻都很大，才能说明此三极管是好的。当C、E间短路，则此三极管是坏的。 ;2.2 单级放大器的测量;３．论述在截止失真和饱和失真的过程中两者图形的不对称性原因是什么？ 答：截止失真是由于工作点偏低，当输入信号为负半周时，三极管工作在截止状态而形成的输出电压顶部失真；饱和失真是由于工作点偏高，当输入信号为正半周时，三极管工作在饱和状态而形成的输出电压底部失真。 ４．如何设置静态工作点及其对放大倍数 Au 输出波形的影响？ 答：一般来说，静态工作点对放大倍数Au没有影响，但;对输出波形有影响，当工作点偏高，易使输出饱和失真，当工作点偏低，易使输出截止失真 ５．静态工作点设置在何值时，输出电压的波形最大且不失真？ 答：静态工作点设置在交流负载线的中点时，输出最大且不失真电压波形。 ６．有哪几种失真波形？是由于什么原因造成的？ 答：有饱和失真和截止失真两种，饱和失真是由于工作点偏高而造成的；截止失真是由于工作点偏低而造成的；还有同时出现饱和失真和截止失真，是由于输入信号过大，或电源电压过低而造成的。 ;2.3 负反馈放大器性能的测量;4．如输入信号存在失真，能否用负反馈来改善？ 答：不能。 ;2.4 运算放大器的应用;2.5 功率放大器的测量;４．为了不损坏输出管，调试中应注意什么问题？ 答：为了不损坏输出管，调试中应注意：输出端不能短路、功放管最好加装散热片、输入信号由小至大逐渐增加等。 ５．如电路有自激现象，应如何消除？ 答：电路如有自激现象，可在三只三极管的集电极与基极之间各接一只100~200pF电容。 ;2.6 整流滤波电路;2.7 集成稳压电路;2.8 充电器的制作;2.9 音乐门铃的制作;2.10 无线话筒的制作;3.1 基本门电路; 3．根据教材相关内容试列举其它常用门电路，阐述其实际应用。 答：参考逻辑门电路章节的内容。 ;3.2 组合逻辑电路的设计与测试;3．怎样用异或门、与门及或门组成一位全加器，要用到哪几个集成块？ 答：参考全加器和附录中相关集成块的内容。设Ai、Bi为加数，Ci-1为低位来的进位，Si为本位的和，Ci为向高位的进位，则有表达式： ;3.3 触发器的工作特性;4．试举出几个触发器间相互转换的例子，分析其转换的原理。 答： 参考触发器间的相互转换一节的内容。 5．什么是空翻现象？什么原因造成空翻现象？说明怎样防止。 答：在同一CP脉冲作用下触发器发生两次或多次反转的现象称为空翻。因为电平触发器在CP为有效电平的整个期间都接收触发信号，所以，当触发信号多次变化时，触发器状态也就多次变化。防止空翻现象的方法：a）减小CP脉冲宽度；b）改进电路。见同步触发器的空翻一节的内容。 ;3.4 编码/译码及数码显示;4．如果将74LS147的I1、I2、I3、I4同时接地，数码管将显示什么号码？ 答：与 同为高电平时相同，具体见编码、译码器一节的内容。 5．编码器的功能是什么？优先编码器有什么优点？ 答： 见编码器一节的相关内容。 ;3.5 计数器及其应用; ;4．本实验所使用的脉冲信号是由脉冲源提供的，试思考用与非门74LS00组成的基本RS触发器来提供脉冲，作为计数器的输入脉冲，应怎样设计？ 答：作为计数器的输入脉冲可用与非门74LS00组成的基本RS触发器来提供，应在RS触发器的基础上增加一个开关，输入端由反相器连接，在电路中加入电容来提高其脉冲的稳定性。具体电路如上右图： ;3.6 数据寄存与传输;4．思考寄存器与锁存器有何区别？ 答：从寄存数据的角度来讲，寄存器和锁存器的功能是相同的；它们的区别在于寄存器是同步时钟控制，而锁存器是电平信号控制。可见，寄存器和锁存器具有不同的应用场合，取决于控制方式以及控制信号和数据之间的时间关系：若数据一定滞后于控制信号有效，则只能使用锁存器；数据提前于控制信号而到达并且要求同步操作，则可用寄存器来存放数据。 5．在进行多位二进制比较时，串联实现与并联实现的工作速度哪个更快？ 答：见移位寄存器应用实例一节内容。 ;3.7 抢答器制作;2．试思考在安装和调试过程中，应如何检验线路的好坏并准确地排除故障。 答： 自己在实训中总结。 3．根据实际逻辑控制的