通用处理器的测试压缩结构设计方法研究设计.docVIP

 PAGE \* MERGEFORMAT 1  PAGE 1 (此文档为word格式，下载后您可任意编辑修改！) 　毕业设计（论文） 题 目 通用处理器的测试 压缩结构设计方法研究  杨晓 通用处理器的测试压缩结构设计方法研究 西安理工大学本科生毕业设计（论文）  PAGE 60  PAGE 61 西安理工大学本科生毕业设计（论文）  = 1 \* ROMAN \* MERGEFORMAT  通用处理器的测试压缩结构设计方法研究 专业：电子信息工程 班级： 作者： 指导教师: 职称： 职称： 答辩日期： 摘 要 在芯片的制造过程中要经历化学，冶金以及光学等多到工序，在这过程中不可避免的会因为工艺的原因，材料的不纯以及封装过程中的问题而导致芯片存在缺陷，这种缺陷的芯片无法正常工作，集成电路测试的主要任务就是找出带有缺陷的芯片。如果不对芯片进行测试，这些有缺陷的芯片流入市场后带来的开销将远远大于测试的开销。因此集