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Cpk与制程能力评价041030
CPK與制程能力評價
☆ 制程能力的定義
☆ 制程(制造系統)的定義及組成部分
☆ 巒異及制程的巒異
☆ 制程能力評價參數一：Ca Cp Cpk
☆ 制程能力評價參數二：Pa Pp Ppk
☆ 分析制程的方法;制程能力的定義;制程的定義及組成部分;巒異的定義及其分類;巒異分可歸咎巒異與不可歸咎巒異.
不可歸咎巒異:在製程中隨時都會影響到產品.是穩定的,對產品的影響在可預測的統計控制範圍內.如機器自身的振動對產品品質的影響.不可歸咎巒異有些是可以改變的.
可歸咎巒異:在某種特定條件下的製程中才會影響到產品.對產品的影響不在可預測的統計控制範圍內.如食品加工過程中溫度的突然巒化.可歸咎巒異可用品管手法監控與發現.
;巒異的定義及其分類;統計管制狀態(穩態);制程巒異;制程巒異的來源;制程巒異的來???;制程巒異的來源;制程巒異的來源;制程能力評估---Ca,Cp,Cpk;數理統計理論簡介;常態分布的特點;標準差與平均值的計算;標準差與平均值的計算;Ca (Capability of Accuracy).;Ca或K之等級評定;A.準確度Ca(Capability of Accuracy).
;K值各種級別的處置原則;Cp (Capability of precision);;24;25;Cp之等級評定基准;Cp值各種級別的處置原則;CPU CPL; CPK ---製程績效指標 ;Cpk之等級評定;制程能力指數判定表:;計算產品不良率:; ±Kr;制程能力評估---Pa,Pp,Ppk;符號;分析制程的方法-直方圖;制作步驟;附表:;D.決定組距: 組距=全距/組數
E.決定各組之上下組界.
1.最小一組的下組界=最小值-測定值之最小位數/2
2.最小一組的上組界=下組界+組距=123.5+4=127.5
依此類推.
F.作次數分配表.(如附表);組 號;2.製作直方圖:畫出短形方塊及規格的上限及下限.(如附表);42;43;44;45;46;47;48;分析制程的方法-管制圖;管制圖與直方圖的區別:;51;分析制程的其他方法;6r-PPM制程介紹:;附圖:
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