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可测性设计-1教程
系统可测性设计技术;前言;1. 什么是可测性（测试性）;Why How DFT ?;;国外研究历程;国内研究现状;国内研究现状（续1）;国内研究现状（续2）;本课程“可测性设计部分”所讨论的中心问题;Stories about surviving from accidents...;When How should we fulfill DFT ?;功能、性能设计与测试性设计并行;3. 本部分课程的主要内容;主要参考书籍及论文资料;4. 要求和希望;1. 概述（计划学时：2）;1.1 故障、诊断及测试性的基本概念;故障影响的后果;故障诊断;故障诊断的研究内容;概念析义：测试性、固有测试性、兼容性;概念析义：机内测试（BIT）、机内测试设备（BITE）;BIT/BITE示例;脉冲信号的机内测试器件（BITD）;BITD应用示例;A320飞机的BIT系统;测试性验证;1.2 测试性及诊断技术的发展;1.2.2 综合诊断、人工智能及CAD的应用;在故障诊断中应用人工智能;在故障诊断中应用CAD技术;1.3 常用测试性与诊断术语;常用???试性与诊断术语（续1）;常用测试性与诊断术语（续2）;常用测试性与诊断术语（续3）;常用测试性与诊断术语（续4）;常用测试性与诊断术语（续5）;扩展阅读;本章课后思考;各类BIT的定义;状态空间的爆涨;测量仪器、附件及自动测试系统;ATS例1：宽带信号模拟系统;ATS例2：通信设备综合测试系统
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