DIN4768_1990用电接触式记录仪测定粗糙度特征值Ra、Rz、Rmax—术语测量条件中文译文.docVIP

DK 62-408.8: 621.9.05 德国标准 1990年5月 用电接触式记录仪测定粗糙度特征值Ra、Rz、Rmax 术语，测量条件 4768用电接触式（铁笔）记录仪测定表面粗糙度数值Ra、Rz、Rmax： 术语，测量条件替代DIN 4768 第1部分-08.74 与国际化标准组织发布的国际标准ISO 3274：1975和ISO 4288之间的关系见注释。 单位：mm 1 应用范围 该标准规定了通过具有电传输、高通滤波和分析功能的接触式尖笔记录仪来测定技术表面的可比粗糙度测量值的术语和测量条件。 备注：波纹度和其它的形状偏差不属本标准范畴。但是在某些功能情况，它对表面适用性的影响比起其对表面粗糙度的影响来说可能会更大。 2 术语 按照DIN 4760、DIN 4762以及DIN 4777中用相位校正滤波器测量粗糙度中的术语。 此外，按照2.1和2.2中的术语。 2.1 滤波器（高通滤波器） 滤波器为轮廓滤波器按照DIN 4777/05.90中的概念 ，根据滤波器特性曲线，实际轮廓的长波部分只有部分或根本就不计入粗糙度轮廓或测量结果。按照极限波长称之为滤波器。 备注：在文献中，滤波器也叫做波分离器或斩波器。 图1：表面粗糙度轮廓的平均峰谷高度图Rz 2.2 测量段 2.2.1 初试段（见图1） 初试段是投影垂直于中线、不用来分析的接触段的长度。刚开始的瞬态过程必须在初试段内逐渐消失。 2.2.2 总测量段lm（见图1） 总测量段是投影垂直于中线、直接用来分析表面粗糙度轮廓部分的长度。 2.2.3 各具体的测量段le（见图1） 各具体的测量段为总测量段lm的五分之一。 备注：各具体的测量段le相当于DIN 4762/01.89中的基准段l。 2.2.4 后续段（见图1） 后续段是投影垂直于中间直线、不再用来分析的描画段的表面粗糙度轮廓的最后一部分的长度。 2.2.5 描画段lr（见图1） 描画段等于初试段、总测量段lm和后续段的总和。 2.3 粗糙度特征值 本标准意义中的粗糙度特征值从表面粗糙度轮廓1）中得出。 2.3.1 算术平均粗糙度值Ra 算术平均粗糙度值是基准段l按照DIN 4762/01.89中的概念 内轮廓偏差y的绝对值的算术平均值。 备注1：这相当于长等于基准段长度l且面积等于表面粗糙度轮廓和中线之间面积之和的矩形的高。 图2：算术平均粗糙度值 Ra 备注2：按照DIN 4775和ISO 4288：1985，Ra和Rz直至16％时表面上所测的各具体值允许大于规定的极限值。 2.3.2 各表面峰谷高度Zi（Zi Δ Z1~Z5）（见图1） 具体的粗糙高度为平行于中心线的两条直线之间的距离，它在具体的测量段内在最高点或最低点与表面粗糙轮廓接触。 2.3.3 平均峰谷高度Rz 平均峰谷高度为5段彼此相邻的测量段的表面峰谷高度的算术平均值。 备注1：按照ISO 4287/1:1984和DIN 4762，该特征参数的缩写符号为Rys。 备注2：本标准中的Rz定义与ISO 4287/1：1984中的定义不一致。如有必要，使用缩写符号RzDIN或RzISO，以示区别。因测量技术的原因，测量ISO 4287/1: 1984中的特性参数Rz应用DIN 4768中适用于Rz DIN的测量条件变得越来越普遍。这也适用于ISO 4288：1985中的规定。当规定的Rz ISO最大值不超过Rz DIN，该规定的Rz ISO可视为遵守规定。详细说明见DIN 4762/01.89第5.7至5.9中的说明。 备注3：见2.3.1中的备注。 2.3.4 最大的表面峰谷高度Rmax（见图1） 最大的表面峰谷高度为整个测量段所测得的表面峰谷高度的最大值Zi。 备注1：按照DIN 4775和ISO 4288：1985，各测量所得的Rmax值不得超过所规定的极限值。这在诸如交互变化的表面也必须满足。 备注2：按照ISO 4287/1:1984和ISO 4288：1985，该特征参数的缩写符号为Ry max。 3 测量条件 3.1 描画记录方向 必须在出现最大粗糙度值的方向进行描画记录。特殊情况时务必就描画记录方向进行协商。 3.2 极限波长λc，测量段长度le 3.2.1周期性外形轮廓（车削和刨削等）的极限波长λc，测量段长度le和总测量长度lm 为周期性外形轮廓时，适用于表1中的规定。 表1：表面波纹间距配合 表面波纹间距Sm 进给λcle lm min 0.1 ≦ 0.04 0.4 ≦ 0.13 0.13 ≦ 0.4 0.4 ≦ 1.3 1.3 ≦ 4 0.08 0.25 0.8 2.5 80.08 0.25 0.8 2.5 80.4 1.25 4 12.5 40可以通过表面轮廓简