试论基于LabWindows-CVI的测试性验证与评估方法的论文.docVIP

　　试论基于LabWindows/CVI的测试性验证与评估方法的论文 　摘 要:装备测试性设计的好坏直接影响了它在使用过程中发生故障时的诊断效率,对装备质量进行考核和评估时,测试性能指标是一个重要的参数。分析了几种测试性验证评估方法,选择使用更合理的超几何分布验证方法,并使用虚拟仪器编程语言labonstration and evaluation based on laba yan-heng, li gang, huang guan-zhong 　　(optical and electronic engineering department,ordnance engineering college, shijiazhuang 050003, china) 　　abstract: the design of the equipments′ testability directly impacts the diagnose efficiency in the process of its usage. the index of the equipment testability is an important parameter in the evaluation and demonstration. some methods of the testability evaluation and demonstration are analyzed, the more reasonable hypergeometric method should be used. lab, prove the rate of exactness and shorten the time. it has high value in project and practice. 　　keyonstration and evaluation; fault diagnosis 　　 　　0 引 言 　　测试性是装备的一种设计特性[1],测试性的好坏直接影响了装备性能的高低以及在使用过程中发生故障时检测时间的长短。.改善测试性是改进电子装备系统设计,提高性能,简化维修保障工作和提高效费比的最有效途径[2]。在对装备质量进行考核时,测试性指标是很重要的方面。目前,对测试性的验证评估缺乏科学有效的措施和方法,还没有统一的系统标准。本文分析现有的测试性验证评估方法,使用更加合理的超几何分布法。该方法不仅需要的样本量较少,而且准确率更高,缩短了时间,是一种更为有效的方法。根据这一理论方法指导,使用更人性化的lab rate,far)[4-5] 。 　　(1) 故障检测率(fdr):一般定义是在规定的时间内,通过给定测点能够在规定工作时间t内正确检测到故障数nd与规定工作时间t内发生故障总数nt之比,用百分数表示。数学公式为: 　　fdr=ndnt×100% 　　(1) 　　 　　(2) 故障隔离率(fir):在规定时间内,通过电路所提供的测点能够在规定条件下用规定方法使正确隔离刀小于等于l个可更换单元的故障数nl与同一时间内检测到的故障数nd之比,用百分数表示。数学公式为: 　　fir=nlnd×100% 　　(2) 　　 　　(3) 虚警率(far):规定工作时间内,发生虚警数nfa与同一时间内的故障检测总数之比,当通过测点检测到被测单元有故障,而实际上该单元没有发生故障。数学公式为: 　　far=nfanf+nfa×100% 　　(3) 　　式中:nf为真实故障检测数。由于虚警率的产生因素较多,包括电路本身、环境因素、人为因素等。所以在进行测试验证时,通常采用故障检测率和故障隔离率。 　　2 几种验证评估方法分析 　　fdr和fir是电子装备测试性最主要的两个指标,目前国内外普遍采用的指标验证方法有两种:二项分布法和正态分布法。还有一种超几何分布法,所需抽样样本量小,费用低,更加科学合理[6] 。 　2.1 二项分布法 　　国军标中采用二项分布法对fdr和fir进行验证,其数学模型为:从样本总体n中抽取n个试验样本,每次抽样为0~1分布,即或是成功或是失败,设成功的概率为q,那么失败的概率为1-q。在n次抽样中,成功i次的概率由二项分布来表达,即: 　　p(n,i,q)=niqi(1-q)n-i 　　(4) 　　 　　二项分布法的判别准则规定:n次抽样中允许失败的次数不超过r次,如果试验中实际失败的次数r′≤r,则判为合格,否则判为不合格。 　　2.2 正态分布法 　　正态分布法数学模型为:根据拉普拉斯定理,当n→∞