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基于配准的红外焦平面阵列条纹非均匀性
第30卷第6期 红外与毫米波学报 V01．30．No．6
1
2011年12月 Millim．Waves December，201
J．Infrared
文章编号：1001—9014(2011)06—0499—05
基于配准的红外焦平面阵列条纹非均匀性校正
任建乐， 陈钱， 钱惟贤
(南京理工大学近程高速目标探测技术国防重点学科实验室，江苏南京210094)
摘要：条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪
声．分析了其产生的原因，提出了一种基于亮度恒定假设和配准的条纹非均匀性校正算法．根据相邻两帧获得亮度
均方误差函数，最后通过最小化全局亮度均方误差函数得到全局最优解作为非均匀性校正的参数．实验结果表明。
该算法能够在几帧内达到较好的收敛，且计算简单，有效提高了条纹非均匀性的校正效果．
关键词：红外焦平面阵列；条纹非均匀性校正；亮度恒定；配准；
中图分类号：TN911．73文献标识码：A
Stripe correctionbasedon for
nonuniformity registration
infrared-focal
planearrays
REN CHEN Wei—Xian
Jian—Le， Qian，QIAN
of of and
Science
(MinisterialKeyLaboratoryJGMT，NanjingUniversity Technology，Nanjing210094，China)
isa fixed noiseinlineinfraredfocal
an-
Abstract：Stripenonuniformityverytypical pattern planearrays(IR-FPA)and
cooled IR-FPA．Its was correction basedon con·
origination nonuniformity
staring analyzed．Astripe algorithm brightness
and was errorfunctionwasobtained to
stancyassumptionregistrationproposed．Brightnessmean-square accordingadjacent
be
correction couldderived the thefunc-
frames．Nonuniformityparameters
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