基于STM32的漆包线漆膜软化击穿性能检测.pdfVIP

学兔兔 I 匐 地 基于STM32的漆包线漆膜软化击穿性能检测 Design of intelligent thermoplastic cut-through tester 谢明华，马凌云，刘 辉，张文希 XlE Ming—hua，MA Ling-yun，LIU Hui，ZHANG Wen—xi (长沙学院电子与通信工程系，长沙41 0003) 摘 要：针对现有漆包线软化击穿测试系统存在的自动化程度不够，对操作员素质要求高等问题，提出 了一种基于STM32作为控制器的智能软化击穿测试系统技术方案。详细介绍了该系统的软硬 件结构、检测电路设计和PID控温算法的设计。测试结果表明，系统精度高及操作简单。 关键词：漆包线；软化击穿；STM32；PID 中图分类号：TH865 文献标识码：A 文章编号：1