边缘重构对锯齿型石墨烯纳米带电子输运的影响.PDFVIP

物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 63, No. 11 (2014) 117102 边缘重构对锯齿型石墨烯纳米带电子输运的影响 李彪 徐大海 曾晖 (长江大学物理科学与技术学院, 荆州 434023) ( 2013 年12 月31 日收到; 2014 年2 月25 日收到修改稿) 实验研究表明石墨烯纳米带中广泛地存在边缘结构重构且稳定的边缘缺陷结构. 本文采用第一性原理的 计算方法研究了锯齿型石墨烯纳米带中边缘结构重构形成的两种不同缺陷结构对材料电子输运性能的影响. 研究发现两种缺陷边缘结构对稳定纳米尺度位型结构和电子能带结构具有显著影响, 它使得费米能级发生移 动并引起了共振背散射. 两种边缘缺陷重构均抑制了费米能级附近电子输运特性并导致不同区域的电子完全 共振背散射, 电导的抑制不仅与边缘缺陷结构的大小有关, 它更取决于边缘缺陷重构位型引起的缺陷态的具 体分布和电子能带的移动. 关键词: 石墨烯纳米带, 重构, 电子结构, 电子输运 PACS: 71.20.Tx, 73.20.Hb, 71.20.–b, 71.22.+i D