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重叠Z扫描技术对波长为104的波前畸变的测量
重叠Z扫描技术对波长为104的波前畸变的测量
T. Xia, D. J. Hagan, M. Sheik-Bahae, and E. W. Van Stryland
1993年8月13日接收
我们介绍Z-扫描技术一个简单的修改,导致了灵敏度的提高从而允许波长104的非线性诱导的波前畸变的测量。这种灵敏度达到了104脉冲激光光源的重复频率。对非线性吸收灵敏度提高3倍。这个方法允许不需要光波导来对非线性薄膜特性描述。
自从介绍了Z扫描,一种非线性折射(NLR)测量的单光束技术
,好几个变化已经介绍来提高这种技术。这些包括非线性(NLR)吸收存在的测量,研究非退化的非线性的两种颜色的Z-扫描技术,时间分辨的Z-扫描,NLR各向异性的测量。大部分这些实验用的是低重复频率的微秒或纳秒激光系统实施的。即使存在低数据获取率,这项技术已经证实了对波长300nm的信噪比的统一体的敏感。从理论上说,已经证实了Z-扫描对NLR的敏感度可以增强三倍通过在样品和光圈之间使用一个镜头,但这还没有通过实验验证。最近证实使用一个车束流剖面使Z扫描结果对NLR灵敏度提高了大约2.5倍。在这里我们介绍提高了一个显著数量级的S/N比的一个简单Z-scan技术的变化。这
修改包括用于标准与Z扫描的一个阻碍大部分的光束的遮蔽光盘的远程光圈。光通过光盘的边缘的结果图示,显示在插图图1,看起来就像一个薄的光环,使人想起日食,因此这项技术被命名为重叠Z扫描。这修改Z扫描技术。Z扫描的这种修饰,伴随着波束空间剖面波动的补偿的方法,导致了一个敏感光学诱导波长约为104的波前畸变和一个从10Hz的重复频率的脉冲激光而来的S/N的统一。值得注意的是更高的敏感度对更稳定或更高重复频率的激光系统是可能的。
Ez扫描实验的装置在图1中展示出来了,其中z扫描的光圈在远处被不透明的光盘替换了。在进行z扫描时,一个薄的非线性样品沿着聚焦高斯光束的z轴被扫描。在自聚焦非线性的情况下(n20, where n = no + n2I),,样品将表现得像靠近焦点的正镜头。从而,对样品位置优先聚焦,远程光束的发散增加,而且更多的光束将从远处的光盘经过。注意,这是与Z扫描光圈的透射率减少截然相反的。当样品放置在聚焦平面上是,样品的影响是校准光束和光盘将会遮蔽更多的光。结果在使用扫描自适应聚焦介质时导致了透光率(峰)的增加, 后面跟着一个下降(谷),因为样品是从焦点的前面到后面扫描的。对自聚焦介质而言峰谷和峰尖的位置颠倒了。
对于一个薄样品这种行为可以被来模拟发光,光强度,和诱导相移的分离方程。?:dI/dz = -αI和dAO/dz = kn2I(z),其中α是线性吸收系数,k = 2∏/λ,λ是真空中的波长。z是样品的深度,区分于大Z,样品的位置就处于光的束腰处。
图一:EZ扫描的实验安排。D1是能量输入监测器,D3是测量穿过样品和光盘的能量。D2是测量穿过参考臂的能量,与没有样品的号志臂是等同的。测量的总量是D2和D3的比值。插图:一微微秒镭射激光束穿过一个99%的遮光的磁盘的电荷耦合器件(CCD)图像。
图二:在通过使用一个倍增频率的微微秒镭射激光下的一个1.5mm厚的BK-7的EZ扫描图。这可靠地曲线与数据吻合,暗示着一个波长2200处的峰值波前畸变和一个大约为5的S/N。
入射光,I oc 1EI2 对一个样品的位置Z而言。因此,尽管 是在震源震时上的同轴相移, 在出口表面处介质中的电场被定义为,光盘平面处的光分散能通过一个颜射计算或者Weaire等人的高斯分解法。
图二:展示了在标准化透光率改变了的条件下1.5mm的BK-7玻璃的EZ扫描图,?T,???描绘为一个Z的功能。激光源是一个混合物的锁模和短脉冲倍增频率的镭射发射单28-ps脉冲(半最大值宽)在532nm处
输入的能量故意减少到50nJ来显示系统噪音。光束被聚焦为一个14um的光斑,导致了一个每平方厘米0.52GW的强辐照度。
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