ch04材料现代分析测试方法概述作业解析.docVIP

第四章 材料现代分析测试方法概述 一、教材习题 4-11　试为下述分析工作选择你认为恰当的（一种或几种）分析方法 (1) 钢液中Mn、S、P等元素的快速定量分析答：X射线荧光光谱（XRF）XRF制样相对简单、快速，所以可选用XRF进行快速定量分析。如果是在线分析，可用光导纤维将钢液发射的光引入原子发射光谱仪进行定量分析，当然定量的准确度和精度不是很高。 (2) 区别FeO、Fe2O3和Fe3O4 答：FeO、Fe2O3和Fe3O4穆斯堡尔谱X射线衍射（XRD）(3) 测定Ag的点阵常数答：X射线衍射（XRD）点阵常数X射线衍射。 (4) 测定高纯Y2O3中稀土杂质元素质量分数答：原子吸收光谱（AAS）或等离子体发射光谱（AES）。原子吸收光谱（AAS）等离子体发射光谱（AES）(5) 砂金中含金量的检测 答：原子吸收光谱（AAS）或等离子体发射光谱（AES）或X射线荧光光谱（XRF）或化学分析等。XRF检测含金量。也可将杂质溶解在溶液中，用AAS或ICP-AES或AFS分析杂质元素的含量，以检测含金量。 (6) 黄金制品中含金量的无损检测； 答：电子探针（EPMA）或带波谱仪（或能谱仪）的扫描电镜（SEM）X射线荧光光谱（XRF）。(7) 几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析答：红外光谱（IR）核磁共振（NMR）IR、NMR、紫外可见光谱（UV-VIS）、差热分析（DTA）IR或NMR或DTA等。高聚物NMR）就可以鉴定出来，有些高聚物要联合采用多种方法（如IR、NMR、UV-VIS、DTA、质谱MS、色谱等）综合分析。定量也要根据高聚物的组成来选用合适的方法。 (8) 推断分子式为C8H10O的化合物之结构答：红外光谱（IR）紫外可见光谱红外光谱（IR）、紫外可见光谱、核磁共振（NMR）和质谱。(9) 某薄膜(样品)中极小弥散颗粒(直径远小于1?m)的物相鉴定答：透射电镜中的选区电子衍射（ED）。(10) 验证奥氏体(?)转变为马氏体(?)的取向关系(即西山关系)：，。 答：透射电镜中的选区电子衍射（ED）。奥氏体转变马氏体ED分别测定奥氏体马氏体(11) 淬火钢中残留奥氏体质量分数的测定答：X射线衍射（XRD）。 (12) 镍-铬合金钢回火脆断口晶界上微量元素锑的分布（偏聚）的研究答：电子探针（EPMA）或带波谱仪（或能谱仪）的扫描电镜。波谱仪（或能谱仪）微量元素锑锑? 特征X射线扫描，或用锑? 特征X射线进行面扫描，以研究断口晶界上微量元素锑的分布（偏聚）(13) 淬火钢中孪晶马氏体与位错马氏体的形貌观察答：透射电镜（TEM）。TEM观察淬火钢中孪晶马氏体与位错马氏体的形貌淬火钢孪晶马氏体位错马氏体选区电子衍射（ED）孪晶马氏体位错马氏体(14) 固体表面元素定性分析及定量分析答：X射线光电子能谱（XPS）或俄歇电子能谱（AES）或二次离子质谱（SIMS）。X射线光电子能谱（XPS）或二次离子质谱（SIMS）。俄歇电子能谱（AES）固体(15) 某聚合物的价带结构分析答：紫外光电子能谱（UPS）或X射线光电子能谱（XPS）UPS。 (16) 某半导体的表面能带结构测定。 答：紫外光电子能谱（UPS）或X射线光电子能谱（XPS）紫外光电子能谱（UPS）。 二、补充习题 1、假若你采用高温固相法合成一种新的尖晶石，最后你得到了一种白色固体。如果它是一种新的尖晶石，你将如何测定它的结构、组成和纯度。2、假若你采用水热法制备TiO2纳米管，最后你得到了一种白色固体，你将如何观察它的形貌？如何测定它的颗粒尺寸、大小、结构、组成和纯度。3、假若你采用溶液插层等方法制备层状硅酸盐/聚合物纳米复合材料，最后你得到了一种块体材料，你将如何表征它的结构？ 层状硅酸盐层状硅酸盐层状硅酸盐