实验报告3频率特性测量.docVIP

实验报告 课程名称： 自动控制理论实验 指导老师： 吴越 成绩： 实验名称： 频率特性测量 实验类型： 同组学生姓名： 鲍婷婷 一、实验目的和要求（必填） 二、实验内容和原理（必填） 三、主要仪器设备（必填） 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析（必填） 七、讨论、心得 一、实验目的 1. 掌握用超低频信号发生器和示波器测定系统或环节频率特性的方法； 2. 了解用TD4010型频率响应分析测试仪测定系统或环节的频率特性方法。 二、主要仪器设备 1.超低频信号发生器 2.电子模拟实验装置 3.超低频慢扫描示波器 三、实验步骤 1．测量微分积分环节的频率特性； (1)相频特性 相频特性的测试线路如图4-3-1所示，其中R1=10kΩ、C1=1uF、R2=2kΩ、C2=50uF。测量时，示波器的扫描旋钮指向X-Y档。把超低频信号发生器的正弦信号同时送入被测系统和X轴，被测系统的输出信号送入示波器Y轴，此时在示波器上可得到一李沙育图形。 然后将椭圆移至示波器屏幕中间，椭圆与X轴两交点的间的距离即为2X0，将Y输入接地，此时得到的延X轴光线长度即为2Xm，因此求得θ=sin-1 (2X0/2Xm)，变化输入信号频率ω(rad/s)，即可得到一组θ(ω)。测量时必须注意椭圆光点的转动方向，以判别相频特性是超前还是迟后。当系统或环节的相频特性是迟后时，光点为逆时针转动；反之超前时，光点为顺时针转动。测试时，ω取值应匀称，否则会影响曲线的准确度。 (2) 幅频特性：示波器选择停止扫描档，超低频信号发生的正弦信号同时送入X轴和被测系统；被测环节的输出信号仍送入Y轴；分别将X通道和Y通道接地，示波器上出现的两条光线对应的两条光线长度为2Xm、2Ym，改变频率ω，则可得一组L(ω)。 2. 测量二阶系统的闭环幅频特性： 二阶系统的方框图如右图所示。 按图设计并连接实验线路，依次改变输入信号频率（按所取频率范围由低到高，测试点自定，但在谐振峰值附近应多测几点），测量并记录数据。 五、实验数据记录和处理 1. 测量微分积分环节的频率特性： (1) 微分积分环节的传递函数为:G(s)=(s2+110s+1000)/(s2+610s+1000) (2) 测量数据为： ω (rad/s) f 实测θ（ω） 计算θ（ω） 实测L（ω） 计算L（ω） 光点转动方向 1.0 0.160 2 0.8 1.8 -23.57 -25.13 0.9 -0.915 -1.324 逆 2.0 0.320 2.1 1.3 1.3 -38.24 -38.32 0.61 -4.293 -3.773 逆 5.0 0.795 2 1.3 0.75 -40.54 -42.84 0.375 -8.519 -9.126 逆 8.0 1.27 2 1.1 0.6 -33.36 -35.91 0.3 -10.45 -11.75 逆 10 1.59 2 1.0 0.48 -30 -30.9 0.24 -12.39 -12.75 逆 30 4.8 2 0 0.36 0 -1.42 0.18 -14.89 -14.87 直线 50 79.5 2 0.5 0.38 14.47 12.44 0.19 -14.42 -14.58 顺 80 12.7 2 0.9 0.44 26.74 25.22 0.22 -13.15 -13.54 顺 100 15.9 2 1.1 0.48 33.36 30.9 0.24 -12.39 -12.75 顺 200 31.83 2 1.3 0.72 40.54 42.84 0.36 -8.873 -9.127 顺 300 47.74 2 1.4 0.96 44.4 43.72 0.48 -6.375 -6.615 顺 600 95.49 2 1.2 1.34 36.86 35.14 0.67 -3.478 -2.948 顺 800 127.3 2 0.8 1.58 23.578 29.53 0.79 -2.047 -1.912 顺 1000 159.1 2 0.72 1.62 21.1 25.13 0.81 -1.830 -1.319 顺 （3）相频特性图： (4) 幅频特性图为： 2. 测量二阶系统的闭环幅频特性： (1)测量数据为： ω (rad/s) f 实测L（ω） 计算L（ω） 1 0.160 2 2.1 1.05 0.423 0.230 3 0.477 2