翻盖机检验标准分解.doc

文件编号名称 翻盖手机检验标准 文件权责部门 品质部 文件管制等级 ■管制文件 □非管制文件 文　件　修　订　记　录 版序 页次 修订内容 生效日期 0 11 第1版（初版） 2006/03/23 结构部 硬件部 测试部 市场部 工程部 品质部 制 作 池跃兵 审 核 批 准 1 目的 為万利达公司生产手机產品質量檢查提供判断合格是否的依據﹑產品接收的標准,界定產品Critical﹑Major﹑Minor缺限，保证手机部件外观、结构及一般性能符合规格要求。 适用范围 适用于万利达公司手机产品进料检验、制程检验及最终出货檢验。 定义: Cri，Critical Defect，致命缺陷：对产品使用者人身与财产安全构成威胁的缺陷； Maj，Major Defect：的缺陷； Min，Minor Defect次要缺陷：产品外观的缺陷；cc，Acceptable Defect，缺陷： 封样，Golden Sample，也称为金样板：由设计部门签名认可的、用于确认和鉴别各种订制结构件来料批量供货质量的样品；一般可分为标准样板和/或上限样板、下限样板、结构样板等。 4 目檢的環境條件目測基本条件是正常裸眼(或纠正视力)单眼視力不小于1.0(无色盲).要求 檢查距離1.LOGO 10mm以内与视窗部位,檢查距離为100mm; 2.浅色产品檢查距離为00mm; 3.深色产品檢查距離为00mm. 時間Time:3~5秒/遍(即检查某一部位,视线停留时间不超过3~5秒):其中产品 视窗部位不少于5秒.目測場地: 無塵;不肮臟 光源:日光燈1000± 200 Lux 且距离被检产品为1± 0.2m檢查角度:垂直光源45或90(其中表面为45且摆动10,B、C和D级表面为).特别提醒：对于AA级表面，检查角度应为每一个方向。 抽样计划与接受标准 抽样计划：按照国标GB2828-2003（或MIL-105-E）正常抽检水平,一次抽样, II类 接受标准：AQL（Cri 0，Maj：0.Min：1.50） 检验标准 6.1产品外观检验标准 ( C：指打开电池盖后所有主机的内表面) “ D ”表示深度, “ L ” 表示长度, “ S ”表示面积, “ W ” 表示宽度,“ ? ”表示直径, “B” 表示距离. Defect Type 缺陷类型 Surface Class 表面等 Defect Level缺陷水平 Judgement判定 Defects Number L(mm) W(mm) ?(mm) S(mm2) B(mm) D(mm) Acc. Min. Maj. Cri. Line-type Defect线状缺陷 AA ≤0.5 ≤0.05 　 (≤0.02) 20 　 X 　 　 　 2 0.5--1 ≤0.05 　 (≤0.05) 　 　 X　 　 　 　 1 1 0.05 　 0.05 　 　 　 　 X　 　 1 A ≤0.5 ≤0.08 　 (≤0.05) 25 　 X　 　 　 　 3 0.5--1 ≤0.08 　 (≤0.08) 20　 　 X 　 　 　 2 1--2 0.08-0.1 　 (0.08-0.2) 　 　 X　 　 　 　 1 2 0.1 　 (0.2) 　 　 　 　 X 　 1 B ≤2 ≤0.05 　 (≤0.10) 20 　 X 　 　 　 3 2--3 ≤0.08 　 0.10--0.20 20　 　 X　 　 　 　 2 2--3 ≤0.10 　 (0.2-0.3) 　 　 X　 　 　 　 1 3 0.1 　 0.3 　 　 　 X　 　 　 1 C ≤5 ≤0.10 　 (≤0.5) 15 　 X　 　 　 　 2 ≤5 0.10--0.15 　 0.5--0.75 　 　 X　 　 　 　 1 5 0.15 　 0.75 　 　 　 X　 　 　 1 D Generally accepted industry wide discoloration and imperfections are allowed.一般缺陷都可接受。 X 　 　 　 Any Defect Type 缺陷类型 Surface Class 表面等级 Defect Level缺陷水平 Judgement判定 Defects Number 缺陷数量 L(mm) W(mm) ?(mm) S(mm2) B(mm) D(mm) Acc. Min. Maj. Cri.