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发光二极管固晶检验标准 文件编号 FJSW—WI085 版本/版次 A/0 页次 5-1 适用范围： 本标准适用于发光二极管固晶工序的检验。 检验项目： 资料检验、外观检验两大类共27个项目。其中，资料检验全检，外观检验的混料、漏固两 个项目全检，其它项目抽检。全检采用目测方式，抽检在显微镜下进行。 设备、仪器及工具： 显微镜、镊子、针笔 检验规则： 4.1 批的组成：由同一作业员在同一班次所作业的同一机种、同一批号，并按规定数量（具体 规定见表一（《固晶检验的批量要求》）放置于同一转料盘中的材料，即可组成一个检验批。 由同一作业员作业的每个班次的最后一盘或每个批号的最后一盘如数量不够规定要求，也 可组成一个检验批。 4.2 检验顺序：先全检项目，后抽检项目。 4.3 抽样：抽检项目根据《固晶检验抽样/判定表》（表二）抽样。 4.4 检查：将待检材料按检验规格进行检查，并分别累计全检部分和抽检部分各类不合格品 的数量以作为判定依据，不合格品以晶粒为计数单位，一个晶粒同时有几种不合格，仍 记为一个不合格品。检验材料的不合格品由QC退回作业员返修。 4.5 判定：同一检验批的全检部分和抽检部分根据检查结果与《固晶检验抽样/判定表》（表二） 分别进行判定，只有某个检验批的全检部分和抽检部分均判为合格时，该批才能判为合格， 否则，为不合格。 5．允收水准： 致命缺陷CR：0.25 主要缺陷MA：0.65 次要缺陷MI：2.5 编制 审核 批准 发光二极管固晶检验标准 文件编号 FJSW—WI085 版本/版次 A/0 页次 5-2 表一：固晶检验的批量要求 支架 发光二极管 2003 2004 批量(K) 20 20 表二：固晶检验抽样/判定表 批量范围（PCS） 抽检样本数（PCS） 抽检判定数（ea） CR0.25 MA0.65 MI2.5 累计2.5 1～150 全检 0，1 1，2 2，3 2，3 151～500 80 0，1 1，2 5，6 5，6 501～1200 125 0，1 2，3 7，8 7，8 1201～3200 200 1，2 3，4 10，11 10，11 3201～10000 315 2，3 5，6 14，15 14，15 10001～35000 500 3，4 7，8 21，22 21，22 35001～150000 800 5，6 10，11 21，22 21，22 150001～500000 1250 7，8 14，15 21，22 21，22 ≥500001 2000 10，11 21，22 21，22 21，22 编制 审核 批准 发光二极管固晶检验标准 文件编号 FJSW—WI085 版本/版次 A/0 页次 5-3 五、检验规格： 检验项目 规格说明 判定 图示 资 料 检 验 资料不明 无流程单或流程单上缺机种、数量、日期、工号的标注 CR —— 资料不符 支架、晶粒、型号与流程单不符 CR —— 外 观 检 验 混料 混有其它机种的材料 CR —— 漏固 固晶区点过银胶，但无晶粒，也无固晶痕迹 CR —— 支架固晶区无晶粒也无点银胶痕迹 CR —— 脱落 固晶点无晶粒，但有固晶痕迹 CR —— 错固 晶粒型号错误 CR —— 多固 固晶位上有多余晶粒 CR —— 支架沾胶 支架阴阳表面沾有银胶 MA —— 混晶 同一条支架混有两种或两种以上的晶粒 CR —— 支架变色 支架有明显易见发黄 MA —— 支架杂物 支架阴阳极端面及侧面有杂物 MI —— 支架变形 支架严重变形＞5° MA —— 支架轻微变形＜5° MI 编制 审核 批准 发光二极管固晶检验标准 文件编号 FJSW—WI085 版本/版次 A/0 页次 5-4 五、检验规格： 检验项目 规格说明 判定 图示 外 观 检 验 晶粒倒置 晶粒焊线点朝下 CR 晶粒倾倒 晶粒焊线点朝侧面 CR 位偏 1/4晶粒宽度＜晶粒中心与碗底中心偏移 ＜1/3晶粒宽度 MI 晶粒中心与碗底中心偏移＞1/3晶粒宽度 MA 旋转 晶粒水平旋转大于5° MA 悬浮 晶粒未与支架碗底紧密接触，间隙大于1/4晶粒高度 MA 倾斜 晶粒底部至少一边未与支架碗底紧密接触，所成夹角小于3°＜θ≤5° MI 夹角大于5° MA